一種電阻率/溫差電動勢測試係統

BKZEM-3電阻率/溫差電動勢測試係統

關鍵詞：塞貝克係數，半導體，熱電材料

BKZEM-3電阻率/溫差電動勢測試係統可用於對於半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

熱力發電是一種通過熱電效應材料產(chan) 生電力的方法，由J.T.Seebeck德國物理學家在1821年發現的。麵對當前的全球由二氧化碳排放以及化學材料消耗而導致的溫室效應，熱電轉變器件引起了注意，因為(wei) 可以有效利用餘(yu) 熱。為(wei) 了迎合這種急迫的需求公司為(wei) 這些材料和器件開發了特性評估裝置。

+  擁有溫度精確控製的紅外金麵加熱爐和控製溫差的微型加熱器；

+  測量是由計算機控製的，並且能夠在的溫度下執行測量，並允許自動測量消除背底電動勢；

+  歐姆接觸自動檢測功能（V-I圖）；

+  可以用適配器來測量薄膜；

+  可定製高阻型。

測試原理：

樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時將樣品加熱並保持在規定的溫度。塞貝克係數的測量是通過測量壓在樣品側(ce) 麵的熱電偶上的上部和下部T1，T2與(yu) 熱電偶一側(ce) 的同一股線之間的熱電動勢dE來確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過在樣品兩(liang) 端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV，並去除引線之間的熱電動勢來確定。

電阻測量係統可實現對金屬或半導體(ti) 材料的熱電性能的評估。作為(wei) ZEM的特點，塞貝克係數（seebeck）和電阻都可以用一種儀(yi) 器來測量。該係統可用於(yu) 對於(yu) 半導體(ti) ，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

主要技術參數：

溫度範圍：  室溫-600℃，800℃ ，1000℃多種範圍可選擇

溫度設定範圍:測溫步數和溫度采樣測量步數：最大125步

測量方法 :溫差電動勢：靜態直流法

電阻率：四電極法

氣氛: 氬氣或氮氣

樣品尺寸:2~4 mm正方形或直徑2~4 mm，長6~22 mm（最大）

導線間距:4，6，8 mm

電源供應:200 VAC，單相，40 A（M8，M10規格）

100 VAC，單相，20 A（L規格，M8和M10規格）

冷卻水需求:自來水,水壓大於(yu) 1.5 kgf/cm²,流量大於(yu) 7 L/min

樣品溫差：MAX.50℃ 

測量方式：電腦全自動測量