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9.評估總結：對測試過程進行總結評估，提出改進建議，為(wei) 以後的測試工作提供參考。
JKTD-1000型鐵電材料特性測試係統
關(guan) 鍵詞：電滯回線，蝴蝶曲線，疲勞，脈衝(chong)
1.係統簡介：
鐵電體(ti) 具有介電壓電、熱釋電、鐵電性質以及與(yu) 之相關(guan) 的電致伸縮性質非線性光學性質、電光性質、聲光性質、光折變性質、鐵電記憶存儲(chu) 性能等等，都與(yu) 其電極化性質相關(guan) ，特別是電介質的熱釋電與(yu) 鐵電性質都與(yu) 其白發極化相關(guan) ，由於(yu) 鐵電體(ti) 具有上述性質，因而在諸多高技術中有著很重要的應用利用其壓電性能可製作電聲換能器，用於(yu) 超聲波探測，聲納，穩頻振諧器，聲表麵波器件等；利用其熱釋電性質可製作紅外探測器,紅外監視器,熱成像係統等利用線性光學效應可製作激光倍頻、三倍額和頻；差頻器：利用電光性可製作激光電光開關(guan) ，光偏轉器，光調器等：利用聲光效應可製作激光聲光開關(guan) ，聲光偏轉器、聲光調製器等：利用光折變效應可製作光存儲(chu) 器件；鐵電材料的鐵電性可製作鐵電記憶存器。
本測試係統用於(yu) 鐵電體(ti) 的鐵電性能測量，可用於(yu) 鐵電體(ti) 的科學研究及近代物理實驗中的固體(ti) 物理實驗以及工業(ye) 化生產(chan) 鐵電存儲(chu) 器的鐵電性能檢測中，本測試係統主要由信號源、高壓電源、電荷放大器、積分器、示波器、計算機通訊接口、計算機和應用軟件等部分組成。
模式測量電路，與(yu) 傳(chuan) 統的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度取決(jue) 於(yu) 積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節,比較容易定標和校準，且能實現較高的測量準確度它不僅(jin) 能畫出鐵電薄膜的電滯回線還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩餘(yu) 極化Pr、矯頑場Ec、漏電流k等參數，以及對鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測試，能夠較全麵確地測量鐵電薄膜的鐵電性能，儀(yi) 器采儀(yi) 器采用一體(ti) 化設計，實現測試結果全數字化，操作簡單方便。
一、產(chan) 品主要用途：
1、可廣泛應用於(yu) 薄膜、厚膜的鐵電材料性能測試和研究
2、可廣泛應用於(yu) 塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲(chu) 器等鐵電材料領域的研究。
二、測試主要技術參數：
1、電滯回線（包含飽和極化，剩餘(yu) 極化，漏電流等參數）
2、鐵電材料疲勞測試，保持性能測試等
3、鐵電材料脈衝(chong) 測試, 印跡等參數
4、應變/位移曲線（蝴蝶曲線）
2、主要技術指標
1) 輸出信號電壓：±10000V
2) 施加頻率：1Hz到1000Hz
3) 波形：正弦波、三角波、方波
4) USB示波器：4CH；70MHz
5) 絕緣電阻/漏電流測量：10TΩ/1pA,1000V
6) 電滯回線測試變溫範圍：RT~200℃
7) 變溫測量控製單元：精度0.1℃；功率：500W；接口：RS485
8) 測試采樣速度：<5秒/樣品•溫度點
9) 樣品規格：陶瓷塊體(ti) ：Φ10-100mm，厚度0.1~10mm
薄膜樣品：Φ10-100mm，厚度1~100μm
10) 控製方式：計算機實時控製、實時顯示、實時數據計算
11) 數據采集分析軟件：
a) 運行環境 windows 7；
b) 測量時實時顯示采集到的電滯回線，可定量得到鐵電材料的飽和極化Ps、剩餘(yu) 極化Pr、矯頑場Ec、漏電流等參數；可以進行鐵電材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試，可選擇測量模式、掃描電場的幅值等；
c) 依據位移回歸法繪製樣品D33應變/位移曲線（蝴蝶曲線）
d) 測量結果可以保存為(wei) 數據文件供Origin等數據處理軟件調用處理，也可保存和打印微機屏幕顯示結果界麵；
e) 具有數據平滑化、電滯回線校正等數據處理功能。
當前位置：