HTIM-1600超高溫絕緣電阻測試儀(yi) 采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集係統，實現了是以往產(chan) 品300倍的抗幹擾功能最快6.4ms的高速測量，作為(wei) 皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，能不受測量環境影響進行穩定測量，並且運用在產(chan) 線中實現高速測量。可實現絕緣材料

TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀(yi) 是一款多用途的電阻測試儀(yi) ，即可應用於(yu) 金屬、半導體(ti) 、導電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測量，也可以應用於(yu) 鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量，是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀(yi) 器，對於(yu) 先進材料應用和開發有著重要意義(yi) 。

HTIM-1001A高溫電阻測試儀(yi) 采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估，適用於(yu) 生產(chan) 企業(ye) 、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體(ti) 材料和半導體(ti) 材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀(yi) 器配置各類測量裝置可以測試不同材料，液晶顯示，無需人工計算，並帶有溫度補償(chang) 功能。

HTIM-1000A高溫電阻測試儀(yi) 采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估，適用於(yu) 生產(chan) 企業(ye) 、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體(ti) 材料和半導體(ti) 材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀(yi) 器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，並帶有溫度補償(chang) 功能。采用芯片控 AD製，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備 英寸觸摸屏， 10軟件可保存和打印數據，自動生成

BLDL-1000型高溫金屬熔融電導率測試裝置是一款專(zhuan) 門應用於(yu) 金屬電導率測量的，它是一種在高溫下測量金屬材料在高溫下熔融的電導率(電阻率）的裝置。熔體(ti) 的電導率是用雙電極法測量的,是目前研究高溫金屬電導率的重要設備。

GWJDN-1000型高溫介電測量係統高溫介電測量係統應用於(yu) 高溫環境下材料、器件的導電、介電特性測量與(yu) 分析，可以測量帶電極和不帶電極的樣品，通過配置不同的測試設備，完成不同參數的測試。是新一代高溫介電測試係統，科研測試裝置，是國家科研院所和高等學府的設備。