010-61446422010-61446422
PRODUCT我們(men) 相信好的產(chan) 品是信譽的保證！
ARTICLES致力於(yu) 成為(wei) 更好的解決(jue) 方案供應商！
2021-03-25
+2020-01-15
+2018-07-26
+
詳細介紹
| 品牌 | BOROSA/德國 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子,交通,航天,司法,電氣 |
GWST-1000型高溫四探針綜合測試係統（包含薄膜，塊體(ti) 功能）
關(guan) 鍵詞：四探針，電阻，方阻
GWST-1000型高溫四探針綜合測試係統（包含薄膜，塊體(ti) 功能）是為(wei) 了更方便的研究在高溫條件下的半導體(ti) 的導電性能，該係統可以*實現在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量矽、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。
二、符合：
1、符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、
2、符合GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》
3、符合美國 A.S.T.M 標準
二、產(chan) 品應用：
1、測試矽類半導體(ti) 、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；
2、可測柔性材料導電薄膜電阻率/方阻
3、金屬塗層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）電阻率/方阻
4、納米塗層等半導體(ti) 材料的電阻率/方阻
5、電阻器體(ti) 電阻、金屬導體(ti) 的低、中值電阻以及開關(guan) 類接觸電阻進行測量
6、可測試電池極片等箔上塗層電阻率方阻
三、主要技術參數
溫度範圍：RT-1000℃
升溫斜率：0-10℃/min (典型值：3℃/min)
控溫精度：±0.1℃
電阻測量範圍：0.1mΩ~1MΩ
電阻率測量範圍：100nΩ..cm~100KΩ .cm
測量環境：惰性氣氛、還原氣氛、真空氣氛
測量方法：四線電阻法，探針法
測試通道：單通道或是雙通道
樣品尺寸：10mmx10mmX20mm或φ＜20mm ,d＜5mm
電極材料：鉑銥合金電極（耐高溫，抗氧化）
絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
數據存儲(chu) 格式：自動分析數據，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成係統所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
數據傳(chuan) 輸：USB
符合標準：ASTM
供電：220V±10%，50Hz
工作溫度：5℃ 至 + 40 ℃；
工作濕度：+40 ℃ 時，相對濕度高達 95%（無冷凝）
設備尺寸： L360mm*W370mm*H510mm
重量：22kg
產品谘詢
當前位置：