描述：四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量係統運用三電極法設計原理測量，並參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview係統開發具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。

SPJD-1200型型四通道同屏高溫介電溫譜測量係統運用三電極法設計原理測量，並參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview係統開發具備彈性的自定義(yi) 功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與(yu) 其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機製，當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存於(yu) 控製器中，不丟(diu) 失試驗數據，設備重新啟動後可恢複原有試驗數據。用於(yu) 分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電係數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可廣泛應用於(yu) 鐵電壓電陶瓷材料、半導體(ti) 器件及功能薄膜材料等研究。

產(chan) 品特點：

1、 提供多方位的測量功能和多元化的價(jia) 位, 擁有更出色的測量精度:

匹配阻抗分析儀(yi) 是采用自動平衡電橋原理研製成功的新一代阻抗測試儀(yi) 器，其0.05%的基本精度、最快達5.6ms的測試速度、10Hz-300MHz的頻率範圍及高達1GΩ的阻抗測試範圍可以滿足元件與(yu) 材料的測量要求，特別有利於(yu) 低損耗(D)電容器和高品質因數(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀(yi) 器向下擴展了十倍。

2、 采用Labview係統開發具備彈性的自定義(yi) 功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置。自動升溫降溫，測試功能強大

3、 四通道同時測量,提高效率,增加對比測試的精度;

材料與(yu) 結構匹配設計夾具,高低溫穩定性好、精度高;

溫介電頻譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能；

軟件：采用C#語言編寫(xie) ，可視化程度高，自動測試，同時顯示四通道的測試數據，並圖形化。

1、 專(zhuan) 用高頻測試線纜，更適合高頻測量：測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用於(yu) 連接高溫爐的測試夾具，同時測試線采用高頻測試專(zhuan) 用測試線，設計兩(liang) 層屏蔽。更適合高頻介電參數測量。

2、 可以實現多種材料不同功能的測試，高溫介電，電阻測試等

探測采用高精度鉑金電極，抗幹擾的能力強，測量精度高

高溫爐加熱均勻，可實現多種氣氛環境下的測試

介電係數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，多種物理參數可實時測試

專(zhuan) 用的分析和測試軟件，可以自行定義(yi) ，保存數據

主要技術參數：

1、溫度範圍： -190℃-1000℃

2、測溫精度： 0.1℃

3．升溫速度： 1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控製，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口： RS-485

8、電極材質： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

10、下電極：直徑26.8mm平麵電極，引線帶同軸屏蔽層

11、保護電極：  帶保護電極，消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

12、電極幹擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平台帶屏蔽罩

13、夾具升降控製： 帶程序和手動控製，可更換夾具的電動升降裝置

14、熱電偶 ：熱電偶探頭與(yu) 樣品平台為(wei) 同一熱沉，測控溫度與(yu) 樣品溫度保持一致

15、無電極樣品尺寸：直徑小於(yu) 40mm，厚度小於(yu) 8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小於(yu) 26mm，厚度小於(yu) 8mm

17、軟件功能：自動分析數據，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成係統所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測量方案：    提供靈活、豐(feng) 富的測試設置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標準極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀(yi) 進行測量

21、配套設備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

23、測試頻率：20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV—2V

25、分辨率：1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準確度: 0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數測量：多功能圖形和參數測量

31、接口方式: RS232C或HANDLER

測試儀(yi) 器：

高溫介電測試係統可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等係列LCR表或阻抗分析儀(yi) ，其他品牌型號也可定製開發

Agilent E4990A

· 五種頻率選擇；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升級

· ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗測量精度

· 25Ω m 至 40 MΩ 寬阻抗測量範圍（10% 測量精度範圍）

· 測量參數：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、複合 Z、複合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc

· 內(nei) 置直流偏置範圍：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA

· 10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線

· 數據分析功能：等效電路分析、極限線測試

Agilent E4294A

覆蓋了很寬的測試頻率範圍(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(you) 異的高q值/低d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號電平範圍可用於(yu) 在實際工作條件下評估器件。測試信號電平範圍為(wei) 5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置範圍為(wei) 0v至±40v或0ma至±100ma。校準和誤差補償(chang) 功能避免了進行夾具內(nei) 器件測量時的測量誤差。agilent 4294a是適用於(yu) 電子元件設計、論證、質量控製和生產(chan) 測試的強大工具。電路設計和開發工程師也能從(cong) 它提供的性能和功能中受益。

Agilent E4980A

基本精度為(wei) 0.1%

測試頻率為(wei) 100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為(wei) 20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測試信號電平監視功能
高速測量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測試量程
變壓器參數測量(供選用)

Wayne Kerr 6500P/B

簡易的TFT觸屏操作，10分鍾內(nei) 輕易上手

　　電介質、壓電片及石英晶體(ti) 測試解決(jue) 方案

30 ms超高速測試速度

　　等效Rdc 可高度精準四線式測試，量測到0.01mΩ

　　0.05%基本精確度

　　可內(nei) 建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias

　　可將測試波形儲(chu) 存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能

　　20Hz~120MHz，七種機型，可隨時升級 ，最高升級到120MHz

　　直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

　　可使用鼠標及鍵盤操控，也可外接打印機及使用USB接口儲(chu) 存數據

　　具等效電路仿真功能，內(nei) 建同頻率LCR Meter一台

Tonghui TH29係列

測試頻率:20Hz-1MHz，分辨率:最高0.1nHz

基本精度:0.05%

測試速度:最快5.6ms/次

測試原理:自動平衡電橋

高穩定性和一致性:高達15個(ge) 測試量程配置