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2021-06-30
+2022-09-27
+2019-04-09
+品牌 | Microtrac/拜爾 | 應用領域 | 電子,交通,航天,汽車,電氣 |
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GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀(yi)
關(guan) 鍵詞:彈性常數等C-V ,介電常數,損耗角,電導率,C-特性
產(chan) 品簡介
GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀(yi) 采用當前的自動平衡電橋原理研製成功的新一高溫介電溫譜分析儀(yi) ,產(chan) 品全新的電子器件。.了傳(chuan) 統國產(chan) 儀(yi) 器複雜繁瑣的操作界麵。基於(yu) Windows10操作係統。實現了全電腦化操作界麵。讓測試更智能、更簡便。
T 120MHz的頻率瓶頸:解決(jue) 了國外同類儀(yi) 器隻能分析、無法單獨測試的缺陷:中英文操作界麵也解決(jue) 了國外儀(yi) 器僅(jin) 有英文界麵的增尬:采用單測和分析兩(liang) 種界麵。讓測試更簡單。
快達2.5ms的測試速度、及高達100MQ的阻抗測試範圖可以滿足元件與(yu) 材料的測量基求。特別有利於(yu) 低損耗(D)電容器和高品質因數Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響。將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀(yi) 器向下擴展了十倍。
主要性能特點
測試頻率: 10Hz-1 30MHz
高精度:采用自動平衡電橋技術,四端對測試配置
高穩定性和一致性
高速度:最快達2.5ms的測試速度
高分辨: 10. 1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800
點測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體(ti) 振蕩器分析五種測試方式
1601點多參數列表掃描功能
四參數測量
自動電平控製(ALC) 功能
4通道圖形掃描功能,每通道可顯示4條曲線,通道和曲線有14種分屏顯示方式
強大的分選: LCR模式10檔分選
圖形掃描模式每條曲線單獨分選
高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A
A.高精度
自動平衡電橋技術的應用,得以在10Hz-1 30MHz頻率、1mQ -100M的阻抗範圍內(nei) 都能達到理想的測量精度,其中最高精度達0.08%,遠遠高於(yu) 射頻反射測童法的阻抗分析儀(yi) 、網絡分析儀(yi) 的精度。
應用
■無源元件:
電容器、電感器、磁芯、電阻器、電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
■半 導體(ti) 元件:
LED驅動集成電路寄生參數測試分析;變容二極管的C-VDC特性;晶體(ti) 管或集成電路的寄生參數分析
■ 其它元件:
印製電路板、繼電器、開關(guan) 、電纜、電池等阻抗評估
介質材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料:
鐵氧體(ti) 、非晶體(ti) 和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體(ti) 材料:
半導體(ti) 材料的介電常數、電導率和C-特性
液晶單元:
介電常數、彈性常數等C-V特性
B.高穩定性和高一致性
下圖是在速度5、則試頻率1MHz,測量100Ω電阻的曲線,由下圖可見其軌跡噪聲≤0.003%(≤±0.0015Ω)
C.高速度
D.10. 1時大屏,四種測裏參數,讓細節一覽無遺
10. 1寸觸摸屏、1280*800分 辨率,Windows10係統 、中英文操作界麵,支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/ HOMI接口,帶來的是無以倫(lun) 比的操作便捷性。
大屏幕帶來更多的好處是,可以把所有測試參數及分選參數、分選結果、功能選擇等參數放置在同一屏幕,而且看起來絕不擁擠和雜亂(luan) ,同時可以顯示四種測量參數,四種測量參數任意可調。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數
E.增強的列表掃描功能
可以最多設置1 601點的列表掃描,每個(ge) 點可以單獨設置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。
F.強大的分析圖形界麵
最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法
G.分段掃描功能
最多可以4通道同時顯示,每個(ge) 通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個(ge) 掃描周期內(nei) ,設置不同的頻率分段進行掃描,掃描時可設置不同的電平及偏置,掃描結果直接圖形顯示,用於(yu) 需要快速篩選多個(ge) 頻率段參數的掃描需求。
如晶體(ti) 諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率,通過分段掃描共呢個(ge) 可在特定頻率範圍內(nei) 掃描測量,無需掃描不相關(guan) 頻率。
H.強大的光標分析能力
TH2851係列精密阻抗分析儀(yi) 具有強大的光標分析能力,可以通過光標實現如下功能:
1.讀取測量結果的數值(作為(wei) 絕對數值或者相對於(yu) 參考點的相對值)
2.查找曲線上的特定點(光標查找)
3.分析曲線測量結果,計算統計數據
4.使用光標值修改掃描範圍以及縱坐標縮放
TH2851可以在每條曲線上顯示10個(ge) 光標,包括了參考光標。
每個(ge) 光標有一個(ge) 激勵值( 坐標係x軸對應的數值)和響應值(坐標係Y軸對應的數值)。
光標查找功能允許搜索下列條件測量點:最大值、最小值
峰穀值:峰值(極大值)、 穀值(極小值)、 光標左側(ce) 最近的峰穀值、光標右側(ce) 最近的峰穀值、多重峰穀值
目標值:距離光標最近的目標值 、光標左側(ce) 最近的目標值、光標右側(ce) 最近的目標值、多重目標值
G.強大的圖形分析功能
1) 曲線分選功能
可以對掃描曲線全部或者部分區域的測試值進行合格/不合格判斷,常用於(yu) 諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。
2)等效電路分析測試
現實生活中不同類型的器件可以械等效成簡單的三參數四種模型、四參數三種模型的阻抗器件,等效電路3分析則式功能提供了7種基本電路模型用於(yu) 等效這些器件。
可以通過仿真的等效電路參數值的阻抗擬合曲線與(yu) 實際測重的阻抗曲線進行對比,還可以通過您輸入的參數按照所選擇的摸型進行擬合。
等效的電路模型可以直接輸出成TIT文檔方便用戶保存使用
3)晶體(ti) 振蕩器分析
對壓電陶瓷等晶體(ti) 進行列量以及性能分析,測重計算後獲取晶體(ti) 的諧振頻軍(jun) 、反諧振頻率.品質因數等重要參數。
4)曲線軌跡對比
曲線軌跡對比用於(yu) 對被測件進行連續測童,所有曲線顯示在同一個(ge) 坐標係中。由下列兩(liang) 種應用:
a)針對多種不同被測件
對比不同測量條件下的曲線軌跡
設置不同的頻率點,計算出所有曲線在該頻率點的測量值
b)針對同一個(ge) 被測件
對比同一個(ge) 條件下測量的多次測量結果重複性
設置不同頻率點,計算出所有曲線在該頻率點的測童值。
F.標配附件