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型號:
GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀

描述:產品簡介

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當前的自動平衡電橋原理研製成功的新一高溫介電溫譜分析儀,產品全新的電子器件。.了傳統國產儀器複雜繁瑣的操作界麵。基於Windows10操作係統。實現了全電腦化操作界麵。讓測試更智能、更簡便。

T 120MHz的頻率瓶頸:解決了國外同類儀器隻能分析、無法單獨測試的缺陷:中英文操作界麵也解決了國外儀器僅有英文界麵的增尬:采用單測和分析兩種界麵。

  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2025-02-12
  • 訪問量

    841
詳細介紹
品牌Microtrac/拜爾應用領域電子,交通,航天,汽車,電氣

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀(yi)

關(guan) 鍵詞:彈性常數等C-V ,介電常數,損耗角,電導率,C-特性


GWJDN-100.jpg



產(chan) 品簡介

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀(yi) 采用當前的自動平衡電橋原理研製成功的新一高溫介電溫譜分析儀(yi) ,產(chan) 品全新的電子器件。.了傳(chuan) 統國產(chan) 儀(yi) 器複雜繁瑣的操作界麵。基於(yu) Windows10操作係統。實現了全電腦化操作界麵。讓測試更智能、更簡便。

T 120MHz的頻率瓶頸:解決(jue) 了國外同類儀(yi) 器隻能分析、無法單獨測試的缺陷:中英文操作界麵也解決(jue) 了國外儀(yi) 器僅(jin) 有英文界麵的增尬:采用單測和分析兩(liang) 種界麵。讓測試更簡單。

快達2.5ms的測試速度、及高達100MQ的阻抗測試範圖可以滿足元件與(yu) 材料的測量基求。特別有利於(yu) 低損耗(D)電容器和高品質因數Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響。將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀(yi) 器向下擴展了十倍。

主要性能特點

測試頻率: 10Hz-1 30MHz

高精度:采用自動平衡電橋技術,四端對測試配置

高穩定性和一致性

高速度:最快達2.5ms的測試速度

高分辨: 10. 1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800

點測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體(ti) 振蕩器分析五種測試方式

1601點多參數列表掃描功能

四參數測量

自動電平控製(ALC) 功能

4通道圖形掃描功能,每通道可顯示4條曲線,通道和曲線有14種分屏顯示方式

強大的分選: LCR模式10檔分選

圖形掃描模式每條曲線單獨分選

高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990AE4980AE4980ALHP4284A

A.高精度

自動平衡電橋技術的應用,得以在10Hz-1 30MHz頻率、1mQ -100M的阻抗範圍內(nei) 都能達到理想的測量精度,其中最高精度達0.08%,遠遠高於(yu) 射頻反射測童法的阻抗分析儀(yi) 、網絡分析儀(yi) 的精度。

應用

■無源元件:

電容器、電感器、磁芯、電阻器、電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。

■半 導體(ti) 元件:

LED驅動集成電路寄生參數測試分析;變容二極管的C-VDC特性;晶體(ti) 管或集成電路的寄生參數分析

■ 其它元件:

印製電路板、繼電器、開關(guan) 、電纜、電池等阻抗評估

介質材料:

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

磁性材料:

鐵氧體(ti) 、非晶體(ti) 和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體(ti) 材料:

半導體(ti) 材料的介電常數、電導率和C-特性

液晶單元:

介電常數、彈性常數等C-V特性

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B.高穩定性和高一致性

下圖是在速度5、則試頻率1MHz,測量100Ω電阻的曲線,由下圖可見其軌跡噪聲≤0.003%(≤±0.0015Ω)

掃描.jpg

C.高速度


D.10. 1時大屏,四種測裏參數,讓細節一覽無遺

10. 1寸觸摸屏、1280*800分 辨率,Windows10係統 、中英文操作界麵,支持鍵盤、鼠標、LANVGA/ HOMI接口,帶來的是無以倫(lun) 比的操作便捷性。

大屏幕帶來更多的好處是,可以把所有測試參數及分選參數、分選結果、功能選擇等參數放置在同一屏幕,而且看起來絕不擁擠和雜亂(luan) ,同時可以顯示四種測量參數,四種測量參數任意可調。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數

測試速度1.jpg


E.增強的列表掃描功能

可以最多設置1 601點的列表掃描,每個(ge) 點可以單獨設置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

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F.強大的分析圖形界麵

最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法


G.分段掃描功能

最多可以4通道同時顯示,每個(ge) 通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個(ge) 掃描周期內(nei) ,設置不同的頻率分段進行掃描,掃描時可設置不同的電平及偏置,掃描結果直接圖形顯示,用於(yu) 需要快速篩選多個(ge) 頻率段參數的掃描需求。

如晶體(ti) 諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率,通過分段掃描共呢個(ge) 可在特定頻率範圍內(nei) 掃描測量,無需掃描不相關(guan) 頻率。

強大分析功能.jpg

H.強大的光標分析能力

TH2851係列精密阻抗分析儀(yi) 具有強大的光標分析能力,可以通過光標實現如下功能:

1.讀取測量結果的數值(作為(wei) 絕對數值或者相對於(yu) 參考點的相對值)

2.查找曲線上的特定點(光標查找)

3.分析曲線測量結果,計算統計數據

4.使用光標值修改掃描範圍以及縱坐標縮放

TH2851可以在每條曲線上顯示10個(ge) 光標,包括了參考光標。

每個(ge) 光標有一個(ge) 激勵值坐標係x軸對應的數值)和響應值(坐標係Y軸對應的數值)

光標查找功能允許搜索下列條件測量點:最大值、最小值

峰穀值:峰值(極大值)、 穀值(極小值)、 光標左側(ce) 最近的峰穀值、光標右側(ce) 最近的峰穀值、多重峰穀值

目標值:距離光標最近的目標值 、光標左側(ce) 最近的目標值、光標右側(ce) 最近的目標值、多重目標值

功能2.jpg

G.強大的圖形分析功能

1) 曲線分選功能

可以對掃描曲線全部或者部分區域的測試值進行合格/不合格判斷,常用於(yu) 諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

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2)等效電路分析測試

現實生活中不同類型的器件可以械等效成簡單的三參數四種模型、四參數三種模型的阻抗器件,等效電路3分析則式功能提供了7種基本電路模型用於(yu) 等效這些器件。

可以通過仿真的等效電路參數值的阻抗擬合曲線與(yu) 實際測重的阻抗曲線進行對比,還可以通過您輸入的參數按照所選擇的摸型進行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TIT文檔方便用戶保存使用

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3)晶體(ti) 振蕩器分析

對壓電陶瓷等晶體(ti) 進行列量以及性能分析,測重計算後獲取晶體(ti) 的諧振頻軍(jun) 、反諧振頻率.品質因數等重要參數。

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4)曲線軌跡對比

曲線軌跡對比用於(yu) 對被測件進行連續測童,所有曲線顯示在同一個(ge) 坐標係中。由下列兩(liang) 種應用:

a)針對多種不同被測件

對比不同測量條件下的曲線軌跡

設置不同的頻率點,計算出所有曲線在該頻率點的測量值

b)針對同一個(ge) 被測件

對比同一個(ge) 條件下測量的多次測量結果重複性

設置不同頻率點,計算出所有曲線在該頻率點的測童值。


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F.標配附件

 

 

 

 

 


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