描述：TSDC-400W新款熱刺激電流測量儀主要適用於在不同溫度下測試材料電阻的試驗測量係統，主要測試材料的電阻溫度變化關係用於測量聚合物的分子運動現象與極化電流的關係，還可以用來測試熱電常數和介電常數。符合JIS-K7131測試標準。，是研究材料內部空間電荷受激脫阱後的遷移以及衰減規律、偶極電荷的鬆弛變化規律、各種電荷之間的相互作用等的重要工具。

TSDC-400W新款熱刺激電流測量儀(yi)

關(guan) 鍵詞：熱刺激電流，電壓，TSDC,TSD

一、設備概述：

TSDC-400W新款熱刺激電流測量儀(yi) 主要適用於(yu) 在不同溫度下測試材料電阻的試驗測量係統，主要測試材料的電阻溫度變化關(guan) 係用於(yu) 測量聚合物的分子運動現象與(yu) 極化電流的關(guan) 係，還可以用來測試熱電常數和介電常數。符合JIS-K7131測試標準。，是研究材料內(nei) 部空間電荷受激脫阱後的遷移以及衰減規律、偶極電荷的鬆弛變化規律、各種電荷之間的相互作用等的重要工具。其在絕緣材料的老化以及擊穿研究、半導體(ti) 光電材料及其元器件的開發、駐極體(ti) 材料的研究等領域中得到了廣泛的應用。儀(yi) 器測試流程自動化實現和完成，並可以保存和導出試驗數據。

二、應用

★材料特征測試
★半導體(ti) 、納米材料、聚合物材料、介質材料、電化學材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機材料等

★電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測試
電容器、電阻器、二極管、晶體(ti) 管、傳(chuan) 感器、TFT和CNT等類型、光電器件、納米器件、太陽能電池、開關(guan) 、繼電器等

★電子/非電子係統
★離子束、電子束、傳(chuan) 感係統、粒子測量、嵌入式精密儀(yi) 器等

★半導體(ti) 和其它器件I-V特性測量

★體(ti) 電阻/表麵電阻率測量

三、產(chan) 品主要特點：

1、在同一空間內(nei) 可有 2 條通道

2、最寬的電壓和電流動態範圍

3、高度準確的 100 µs 脈衝(chong) 可擴展直流生產(chan) 測試能力

4、嵌入式腳本提供的生產(chan) 吞吐量

5、消除與(yu) PC 之間耗時的總線通信

6、高級數據處理和流量控製

7、通用型探頭/處理程序控製

8、係統性能，無主機

9、TSP-Link® 技術支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 並行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時所有通道同時獨立受控。

10、支持 <500 ns 通道間同步

11、可達 32 條或 64 條獨立 SMU 通道

12、隨著測試要求變化輕鬆重新配置

四、技術參數：

1、最小電流分辨率：20pA

2、溫度測量範圍：-160°C-600°C

3、升溫速率：0.5℃--10℃/min

4、電壓量程（DC）：10V/50V/100V/250V/500V/1000V

5、樣品架：自動升降

6、加熱方式：電熱絲(si)

7、製冷方式：液氮

8、導熱製冷介質：二甲基矽油（粘度2CS,容量10L）

9、數據采集：軟件控製，自動采集，實時動態顯示曲線

10、數據保存：可導出EXEXL數據報表，生成電子報告

11、實驗流程：參數設定後，整個(ge) 實驗過程無需人工幹預，自動完成實驗

12、測量電極直徑：10MM

13、設備重量：100KG

14、加熱功率：1500W

五、軟件介紹：

起始溫度：試驗開始溫度，需要設定，到達此溫度後，開始做試驗

截止溫度：試驗結束溫度，需要設定，到此溫度後，自動結束

變溫速率：設定升溫速率

保持時間：到達設定的溫度後，需要保持的時間

坐標軸切換：以溫度/時間為(wei) 坐標軸，進行切換

驅動電壓：選擇試驗電壓

上升：電極支架上升鍵

下降：電極支架下降鍵

允許外部控製：手動在設備上進行上升和下降，需要在軟件上進行授權