描述：HTIM-300高低溫材料RAYBET雷竞技及时主要用於半導體材料導電性能的評估和測試，該係統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用於半導體材料矽（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化镓(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaA

HTIM-300型高低溫材料RAYBET雷竞技及时

HTIM-300高低溫材料RAYBET雷竞技及时主要用於(yu) 半導體(ti) 材料導電性能的評估和測試，該係統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體(ti) 材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用於(yu) 半導體(ti) 材料矽（si）、鍺（ge）,化合物半導體(ti) 材料砷化镓(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體(ti) GaAsAl、GaAsP，固溶體(ti) 半導體(ti) ，如Ge-Si、GaAs-GaP等的塊體(ti) 材料的電阻率測量等材料的電阻率測量。

二、主要應用領域：

半導體(ti) 材料電阻測試

複合絕緣材料

陶瓷材料

雲(yun) 母

玻璃材料

導電功能薄膜材料

絕緣超材料

矽橡膠材料

PCB材料
三、主要技術參數：
溫度範圍：-160℃-600℃
升溫斜率：0-10℃/min (典型值：3℃/min)
控溫精度：±0.5℃
電阻測量範圍：0.1mΩ~1MΩ
電阻率測量範圍：100nΩ..cm~100KΩ .cm
測量環境：惰性氣氛、還原氣氛、真空氣氛
測量方法：四線電阻法
測試通道：單通道
樣品尺寸：10mmx10mmX20mm或φ＜20mm ,d＜5mm
電極材料：紫銅鍍金
絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
數據存儲(chu) 格式：TXT文本格式
數據傳(chuan) 輸：USB
符合標準：ASTM
供電：220V±10%，50Hz
工作溫度：5℃ 至 + 40 ℃；
存儲(chu) 溫度：–40 ℃ 至 +65 ℃
工作濕度：+40 ℃ 時，相對濕度高達 95%（無冷凝）
設備尺寸：400x450x580mm
重量：38kg

案列：交付中科院上海微電子係統研究所

現場交付圖

能提供從(cong) -190℃到600℃溫度範圍內(nei) 的精準控製。

   現場實驗測試變溫電阻測試數據（二）

測試樣品為(wei) 高阻材料，實驗顯示隨溫度升高，材料電阻在高溫下驟降。在本次交付中，針對客戶需求，對配套軟件進行了定製。

包含兩(liang) 種測試模式：

①RT測試：樣品電阻隨溫度變化；

②數據時間譜測試：到達設定溫度後，樣品電阻隨時間變化。