GW-JDZK高溫介電溫譜阻抗分析儀(yi) （溫度：1000℃，頻率：10HZ-20MHZ）提供頻率（10 Hz 至20MHz），可在不同測量條件下進行高速連續測量。其等效電路分析功能支持7種不同的參數模型(三組件、四組件)，可協助客戶仿真組件的等效參數值。並支持RS232、 USB 、LAN和 GPIB PC聯機能力。

熱刺激電流（Thermally Stimulated Current，TSD）技術是通過將樣品線性升溫，使材料中不同陷阱能級內(nei) 的空間電荷脫阱，或使取向的偶極分子發生鬆弛，在外電路上產(chan) 生電流，獲得電流隨溫度的變化關(guan) 係的一門技術。通過對所獲得的電流-溫度譜的分析、計算，可得到捕獲空間電荷和取向偶極分子的束縛能級、活化能分布和儲(chu) 存的電荷密度、脫阱電荷的逃逸頻率和平均渡越時間等參數，是研究材料內(nei) 部空間電荷

GLSR-1000型玻璃熔體(ti) 電阻率試驗儀(yi) 是一款專(zhuan) 用於(yu) 玻璃熔體(ti) 電阻測試的設備，采用自動平衡技術，具有交流電壓輸出功能，頻率可調，可測試不同電流及頻率下的電阻率數據，加熱及溫控係統數據穩定，可以設置不同溫度及升溫速率，是研究玻璃熔體(ti) 電阻率的重要設備。

產(chan) 品簡介GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀(yi) 采用當前的自動平衡電橋原理研製成功的新一高溫介電溫譜分析儀(yi) ，產(chan) 品全新的電子器件。.了傳(chuan) 統國產(chan) 儀(yi) 器複雜繁瑣的操作界麵。基於(yu) Windows10操作係統。實現了全電腦化操作界麵。讓測試更智能、更簡便。T 120MHz的頻率瓶頸:解決(jue) 了國外同類儀(yi) 器隻能分析、無法單獨測試的缺陷:中英文操作界麵也解決(jue) 了國外儀(yi) 器僅(jin) 有英文界麵的增尬:采用單測和分析兩(liang) 種界麵。

TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀(yi) 一款兼具薄膜和塊體(ti) （可擴展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻係數、樣品相變溫度點。而且可廣泛用於(yu) 光電、鐵電、熱電等各種導電材料的電阻率測量。是目前科研和生產(chan) 的重要材料測量設備。

HTIM-600高溫RAYBET雷竞技及时是一款針對於(yu) 材料的測量設備，可以出具CNAS整體(ti) 認證的專(zhuan) 業(ye) 材料高溫測量設備，該儀(yi) 器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集係統，實現了是以往產(chan) 品300倍的抗幹擾功能最快6.4ms的高速測量，作為(wei) 皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，