JK-CH600190-XRD光學冷熱台是一種安裝在X-射線衍射儀(yi) 上研究樣品變溫X-射線衍射的附件。產(chan) 品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）溫度範圍內(nei) 的氣氛/真空測試環境。適合於(yu) 粉末、片材樣品在變溫下進行X-射線結構研究，適配現有各種X-射線衍射儀(yi) （布魯克、賽默飛、理學等）。

JKGX-190光學測試冷熱台采用液氮製冷和電熱絲(si) 加熱方式，可以在-190℃~600℃範圍內(nei) 進行溫度和環境控製，搭配其他儀(yi) 表進行電學、光學等測試。$n結構緊湊，適用於(yu) 各種變溫測試$n最大溫度範圍-190~600℃（選型）$n氣密腔室設計，可通保護氣體(ti) $n上位機軟件控製支持改動或定製

GFQLR-200半導體(ti) 製冷積分球冷熱台 半導體(ti) 製冷原理的冷熱台，體(ti) 積小變溫速度快，直接貼附在積分球上使用。可適用於(yu) 透射和反射情況。散熱可選擇水冷和風冷方式。 附件:可另外增加一路樣品溫度采集

GQGT-600型光纖光譜儀(yi) 冷熱台光纖光譜儀(yi) 可用於(yu) 變溫的光學投射或反射測量，也可以用於(yu) 樣品被紫外線或X射線激發後的光學測量。溫控軟件可集成溫度和光譜數據，並實時顯示和保存。

GPLR-600型小型光譜儀(yi) 冷熱台體(ti) 積小巧、溫度範圍廣。 內(nei) 部可以增加最多四個(ge) 電學探針，可實現在光學測量的同時可進行電信號測量。 可以增加側(ce) 麵支架和氣氛接頭，使用非常靈活。

BDTGP-100型半導體(ti) 製冷光譜儀(yi) 冷熱台 可配合光譜儀(yi) 使用，體(ti) 積小變溫速度快，適合千研究二氧化鋼等半導體(ti) 材料