JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀(yi) 是一款針對薄膜測試的專(zhuan) 用設備，測試薄膜介電常數及損耗需要特製的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數（ε）器件的介電性能測量與(yu) 分析，可測試以下參數隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(B)、導納(Y)、損耗(D)、品質因數(Q)等參數，同時計算獲得反

PV520A-S超聲元件阻抗分析儀(yi) 是由清華大學自動化係和中國科學院聲學所共同研製開發的。測試如下以及十多個(ge) 參數：諧振頻率 Fs 、大電導 Gmax 、帶F2-F1 、反諧振頻率 Fp 、品質因數 Qm 、自由電容 CT 、動態電阻 R1 、動態電感L1 、動態電容 C1 、靜態電容 C0 、有效機電耦合係數 Keff 。用於(yu) 壓電超聲器件和設備的檢測綜合性解決(jue) 方案.也是目前高校和生產(chan) 單位的重要檢測儀(yi)

TSDC-100型高低溫熱刺激電流測量儀(yi) ,熱激勵去極化電流測量係(thermally stimulated depolar-ization currents,簡寫(xie) 為(wei) TSDC或TSC)是電介質材料在受熱過程中建立極化態或解除極化態時所產(chan) 生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩(liang) 電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發，然後施加一個(ge) 直流的極化電壓，經過一段時間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子

PEA-101A+型絕緣材料空間電荷激發及測試係統

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀(yi) 是一款針對薄膜測試的專(zhuan) 用設備，測試薄膜介電常數及損耗需要特製的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數（ε）器件的介電性能測量與(yu) 分析，可測試以下參數隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(B)、導納(Y)、損耗(D)、品質因數(Q)等參數，同時計算

SMDR-1600型超高溫導熱儀(yi) |導熱係數測試儀(yi) 主要測試含碳耐火材料，石墨氈，碳氈，石墨等靜壓碳棒等低導熱係數材料的導熱係數。該儀(yi) 器基於(yu) 熱流計法的原理，兼配GB/T10295等相關(guan) 國標要求，測試溫度高達1600℃，並作出了相應的改進，由計算機自動完成測試工作，並對各狀態點進行數字化顯示。亦以可人工完成測試，滿足了材料檢測研究部門對材料導熱係數的高精度測試要求。應於(yu) 金屬材料銅，不鏽鋼材料等導電材料，