描述：機電薄膜e31測試儀 aix4PB
(Electromechanical thin film e31 analyzer )

薄膜材料的機電性能是MEMS器件設計的關鍵性能，縱向壓電係數d33和橫向壓電係數e31被用於表征傳感器和執行器的這些關鍵性能。
縱向壓電係數可由aixDBLI測試，而橫向壓電係數e31就可用aix4PB係統測試。
通過必要夾具，可以測得正向e31和逆向e31。

機電薄膜e31測試儀(yi) aix4PB
(Electromechanical thin film e31 analyzer )

薄膜材料的機電性能是MEMS器件設計的關(guan) 鍵性能，縱向壓電係數d33和橫向壓電係數e31被用於(yu) 表征傳(chuan) 感器和執行器的這些關(guan) 鍵性能。
縱向壓電係數可由aixDBLI測試，而橫向壓電係數e31就可用aix4PB係統測試。
通過必要夾具，可以測得正向e31和逆向e31。

標準的aix4PB係統主要由以下部分組成：四點彎曲樣品夾具、TF Analyzer 2000、單光束激光測振儀(yi) 。
可以進行如下測試功能：
全部鐵電性能表征，基於(yu) TF2000係統，包括極化、電容、漏電流、疲勞測試。
有效橫向壓電係數的測量通過交替均勻機械力施加於(yu) 樣品，並測試的電荷。
所有的測量數據也可以在附加的壓縮或拉伸靜態負載下進行，這也覆蓋了整個(ge) 壓電薄膜在整個(ge) MEMS器件中的行程。

特點/規格：
四點彎曲樣品夾具：
產(chan) 生力的壓電執行器
激光測振儀(yi) 夾具
很容易接觸到頂部和底部的樣品電極
所有的TF2000係統的測試功能 
遠程接入和腳本控製的可選件
單光束激光幹涉儀(yi) ，最小分辨率1nm

軟件：
Windows 7 操作係統
通過GPIB或以太網的遠程接入和腳本控製
通過ODBC接口的數據庫連接
測試數據通過ASCII形式輸出
測試數據交換通過aixPlorer軟件或Resonance Analyzer