電卡效應測試儀(yi) ECM$n(ElectroCaloric Measurement)$n$n本係統除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用於(yu) 測試材料在寬溫度範圍內(nei) 的電卡性能。$n$n電卡測試性能參數：$n溫度範圍: -50℃到200℃$n溫度靈敏度: 20mK

SWXWY-600型*材料高低溫三維顯微應變測量係統係統——光學顯微鏡和DIC數字圖像相關(guan) 技術的結合，可以滿足納米級精度測量需求。SWXWY-600型*材料三維顯微應變測量係統係統彌補了傳(chuan) 統設備無法進行微小物體(ti) 變形測量的不足，成為(wei) 微觀尺度領域變形應變測量的一個(ge) 有力工具。該設備對於(yu) *材料各種參數的測量，如：楊氏模量、泊鬆比、彈塑性，微觀應變等，對於(yu) 材料的研究有著重要作用。

應用領域主要有： Ferroelectric/ Multiferroic Tunnel-Junctions (FTJ/MFTJ) 鐵電/多鐵隧道結 Electro-Chemical Metallization Memory (ECM) 電化反應存儲(chu) 器 Magnetoresistive Tunnel-Junctions (MTJ) 磁阻隧道結 Electronic Effect Memory (EE

aixPES壓電材料綜合表征係統本係統主要用於(yu) 壓電塊體(ti) 陶瓷樣品的全麵電性能和機電性能的表征。 大信號和小信號材料的特征可以在一定溫度範圍內(nei) 表征。樣品上的電流響應測量是通過精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵信號。樣品的微位移同時通過激光幹涉儀(yi) 進行測量。

本設備主要用來研究電介質材料的自漏電性。 由於(yu) 測試條件非常接近實際情況，因此通過這種方式可容易地測試應用於(yu) DRAM材料的合適性。技術說明：

TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀(yi) TF ANALYZER 3000E是一款擴展性的高速型模塊化鐵電壓電分析儀(yi) ，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與(yu) 激光幹涉儀(yi) 和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳(chuan) 感器聯用，可廣泛地應用於(yu) 如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體(ti) 材料和電子陶瓷、鐵電傳(chuan) 感器/執行器/存儲(chu) 器等領域的研究。