熱激發極化電流測試儀(yi) TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本係統除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用於(yu) 測試材料的熱激發極化電流TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)。

熱電性能測試儀(yi) COMTESSE (Thermoelectric Measurement) 本係統主要用於(yu) 熱電性能測試。 包括：熱導率thermal conductivity, 電導率electrical conductivity, 塞貝克係數Seebeck-Coefficient, Harman ZT等隨溫度的變化。

機電薄膜e31測試儀(yi) aix4PB (Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機電性能是MEMS器件設計的關(guan) 鍵性能，縱向壓電係數d33和橫向壓電係數e31被用於(yu) 表征傳(chuan) 感器和執行器的這些關(guan) 鍵性能。 縱向壓電係數可由aixDBLI測試，而橫向壓電係數e31就可用aix4PB係統測試。 通過必要夾具，可以測得正向e31和逆向e31。

高溫塊體(ti) 壓電分析儀(yi) aixPES-600/800本係統主要用於(yu) 高溫下的壓電塊體(ti) 陶瓷樣品的全麵電性能和機電性能的表征。 壓電測試溫度可以達到室溫到600℃或室溫到800℃兩(liang) 種溫度範圍。大信號和小信號材料的特征可以在一定溫度範圍內(nei) 表征。樣品上的電流響應測量是通過精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵信號。樣品的微位移同時通過激光幹涉儀(yi) 進行測量。

多鐵材料磁電磁阻測試儀(yi) aixPES-MR (MagnetoResistive Measurement)本係統主要用於(yu) 研究磁阻和鐵性材料。 本係統提供連續電流激勵和測試，樣品上的電壓降通過高精度四點測試。

低溫塊體(ti) 壓電分析儀(yi) aixPES-Cryo 本係統主要用於(yu) 高低溫下的壓電塊體(ti) 陶瓷樣品的全麵電性能和機電性能的表征。壓電測試溫度可以達到-100℃到+600℃。大信號和小信號材料的特征可以在一定溫度範圍內(nei) 表征。樣品上的電流響應測量是通過精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵信號。樣品的微位移同時通過激光幹涉儀(yi) 進行測量。