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2024-11-13
+2018-06-05
+2024-09-14
+品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 電子,交通,航天,汽車,電氣 |
HTIM-300型高低溫材料RAYBET雷竞技及时
高低溫測試平台
6517B高阻測試儀(yi)
2450低阻表
HTIM-3高低溫材料RAYBET雷竞技及时主要用於(yu) 半導體(ti) 材料導電性能的評估和測試,該係統采用四線電阻法測量原理進行設計開發,可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體(ti) 材料電阻和電阻率,可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試,可以廣泛用於(yu) 半導體(ti) 材料矽(si)、鍺(ge),化合物半導體(ti) 材料砷化镓(GaAs)、銻化銦(InSb),三元化合物半導體(ti) GaAsAl、GaAsP,固溶體(ti) 半導體(ti) ,如Ge-Si、GaAs-GaP等的塊體(ti) 材料的電阻率測量等材料的電阻率測量。
主要應用領域:
半導體(ti) 材料電阻測試
複合絕緣材料
陶瓷材料
雲(yun) 母
玻璃材料
導電功能薄膜材料
絕緣超材料
矽橡膠材料
PCB材料
一、主要技術參數:
溫度範圍:-160℃-600℃
升溫斜率:0-10℃/min (典型值:3℃/min)
控溫精度:±0.5℃
電阻測量範圍:0.1mΩ~1MΩ
電阻率測量範圍:100nΩ..cm~100KΩ .cm
測量環境:惰性氣氛、還原氣氛、真空氣氛
測量方法:四線電阻法
測試通道:單通道
樣品尺寸:10mmx10mmX20mm或φ<20mm ,d<5mm
電極材料:紫銅鍍金
絕緣材料:99氧化鋁陶瓷
數據存儲(chu) 格式:TXT文本格式
數據傳(chuan) 輸:USB
符合標準:ASTM
供電:220V±10%,50Hz
工作溫度:5℃ 至 + 40 ℃;
存儲(chu) 溫度:–40 ℃ 至 +65 ℃
工作濕度:+40 ℃ 時,相對濕度高達 95%(無冷凝)
設備尺寸:400x450x580mm
重量:38kg