描述：GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量係統運用三電極法設計原理測量，並參考美國A.S.T.M 標準,采用Labview係統開發具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。高低溫介電溫譜測量係統(-190℃-1000℃）電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全。

GWJDN-4型高低溫介電溫譜測量係統介紹：

關(guan) 鍵詞：四通道，溫度：-190℃-1000℃，120MHZ。

GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量係統運用三電極法設計原理測量，並參考美國A.S.T.M 標準。高低溫介電溫譜測量係統(-190℃-1000℃）采用Labview係統開發具備彈性的自定義(yi) 功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與(yu) 其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機製，當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存於(yu) 控製器中，不丟(diu) 失試驗數據，設備重新啟動後可恢複原有試驗數據。用於(yu) 分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電係數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，可廣泛應用於(yu) 鐵電壓電陶瓷材料、半導體(ti) 器件及功能薄膜材料等研究。

高低溫介電溫譜測量係統(-190℃-1000℃）產(chan) 品特點：

1、提供多方位的測量功能和多元化的價(jia) 位，擁有更出色的測量精度：

匹配阻抗分析儀(yi) 是采用當前的自動平衡電橋原理研製成功的新一代阻抗測試儀(yi) 器，其0.05%的基本精度、最快達5.6ms的測試速度、10Hz-300MHz的頻率範圍及高達1GΩ的阻抗測試範圍可以滿足元件與(yu) 材料的測量要求，特別有利於(yu) 低損耗(D)電容器和高品質因數(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀(yi) 器向下擴展了十倍。

2、采用Labview係統開發具備彈性的自定義(yi) 功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置。自動升溫降溫，測試功能強大。

3、四通道同時測量，提高效率，增加對比測試的精度；材料與(yu) 結構匹配設計夾具,高低溫穩定性好、精度高；溫介電頻譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能；軟件：采用C#語言編寫(xie) ，可視化程度高，自動測試，同時顯示四通道的測試數據，並圖形化。

4、專(zhuan) 用高頻測試線纜，更適合高頻測量：測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用於(yu) 連接高溫爐的測試夾具，同時測試線采用高頻測試專(zhuan) 用測試線，設計兩(liang) 層屏蔽，更適合高頻介電參數測量。

5、可以實現多種材料不同功能的測試，高溫介電，電阻測試等探測采用高精度鉑金電極，抗幹擾能力強，測量精度高

高溫爐加熱均勻，可實現多種氣氛環境下的測試介電係數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，多種物理參數可實時測試專(zhuan) 用的分析和測試軟件，可以自行定義(yi) ，保存數據。

主要技術參數：

1、溫度範圍： -190℃-1000℃

2、測溫精度： 0.1℃

3．升溫速度： 1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控製，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口： RS-485

6、電極材質： 鉑銥合金

7、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

8、下電極：直徑26.8mm平麵電極，引線帶同軸屏蔽層

9、保護電極：帶保護電極，消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

10、電極幹擾屏蔽：電極引線帶同軸屏蔽，樣品平台帶屏蔽罩

11、夾具升降控製： 帶程序和手動控製，可更換夾具的電動升降裝置

12、熱電偶 ：熱電偶探頭與(yu) 樣品平台為(wei) 同一熱沉，測控溫度與(yu) 樣品溫度保持一致

13、無電極樣品尺寸：直徑小於(yu) 40mm，厚度小於(yu) 8mm

14、帶電極樣品尺寸： 直徑小於(yu) 26mm，厚度小於(yu) 8mm

15、軟件功能：自動分析數據，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成係統所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

16、測量方案：提供靈活、豐(feng) 富的測試設置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

17、標準極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

18、配套設備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀(yi) 進行測量

19、配套設備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

20、測試頻率：20HZ-10MHZ

21、測試電平：100mV—2V

22、分辨率：1MHZ

23、輸出阻抗：100Ω

24、測試參數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

25、基本準確度：0.05%

26、顯示：液晶顯示

27、參數測量：多功能圖形和參數測量

28、接口方式：RS232C或HANDLER

測試儀(yi) 器：

高溫介電測試係統可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等係列LCR表或阻抗分析儀(yi) ，其他品牌型號也可定製開發。

五種頻率選擇；20Hz至10/20/30/50/120MHz，可升級

±0.08%（典型值±0.045%）基本阻抗測量精度

25Ωm至40MΩ寬阻抗測量範圍（10%測量精度範圍）

測量參數：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、複合Z、複合Y、VAC、Iac、VDC、Idc

內(nei) 置直流偏置範圍：0V至±40V、0A至±100mA

10.4 英寸彩色LCD觸摸屏上的4通道和4跡線

數據分析功能：等效電路分析、極限線測試

覆蓋了很寬的測試頻率範圍(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(you) 異的高q值/低d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號電平範圍可用於(yu) 在實際工作條件下評估器件。測試信號電平範圍為(wei) 5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置範圍為(wei) 0v至±40v或0ma至±100ma。校準和誤差補償(chang) 功能避免了進行夾具內(nei) 器件測量時的測量誤差。agilent 4294a是適用於(yu) 電子元件設計、論證、質量控製和生產(chan) 測試的強大工具。電路設計和開發工程師也能從(cong) 它提供的性能和功能中受益。

基本精度為(wei) 0.1%

測試頻率為(wei) 100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz

量程為(wei) 20mV～1Vrms，以5mVrms分檔

具有測試信號電平監視功能

高速測量25ms

高速接觸檢查

大的電容測試量程

變壓器參數測量(供選用)

Wayne Kerr 6500P/B

簡易的TFT觸屏操作，10分鍾內(nei) 輕易上手

電介質、壓電片及石英晶體(ti) 測試解決(jue) 方案

30ms超高速測試速度

等效Rdc可高度精準四線式測試，量測到0.01mΩ

0.05%基本精確度

可內(nei) 建0-100mA+/- 40V，外加可至60A DC Bias

可將測試波形儲(chu) 存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能

20Hz~120MHz，七種機型，可隨時升級，最高升級到120MHz

直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

可使用鼠標及鍵盤操控，也可外接打印機及使用USB接口儲(chu) 存數據

具等效電路仿真功能，內(nei) 建同頻率LCR Meter一台

測試頻率：20Hz-1MHz，分辨率：最高0.1nHz

基本精度：0.05%

測試速度：最快5.6ms/次

測試原理：自動平衡電橋

高穩定性和一致性：高達15個(ge) 測試量程配置