描述：半導體冷熱台JK-120BCH采用半導體致冷，配合低溫循環液，實現從-40到180℃（選型）的控溫。
結構緊湊，適用於各種變溫測試
氣密腔室設計，可通保護氣體
多探針測試
上位機軟件控製
支持改動或定製

JK-120BCH半導體(ti) 冷熱台

半導體(ti) 冷熱台JK-120BCH采用半導體(ti) 致冷，配合低溫循環液，實現從(cong) -40到180℃（選型）的控溫。

結構緊湊，適用於(yu) 各種變溫測試

氣密腔室設計，可通保護氣體(ti)

多探針測試

上位機軟件控製

支持改動或定製

溫控特性

1. 溫度範圍：

下限溫度(℃)（選型）：A. -30 B. -40

上限溫度(℃)（選型）：A. 120 B. 180

2. 控溫速度：0~10℃/min

3. 溫度分辨率：0.1℃ 4. 溫度穩定性：±0.1℃

5. 溫度控製：高精度PID控製

6. 載樣台材質：銅

7. 溫度傳(chuan) 感器：PT100

8. 冷卻方式：低溫循環液

光學特性

1. 光路：反射光路

2. 視窗：可拆卸更換，可用不同材質玻璃實現不同波段光觀察

3. 最小物鏡工作距離：12.0mm

4. 上蓋視窗：φ25mm

結構特性

1. 樣品台麵尺寸：40x40mm（以實際尺寸為(wei) 準）

2. 樣品腔高度：9.0mm（載樣台上部空間高度）

3. 放樣：移除上蓋後放置樣品，固定探針

4. 氣氛控製：默認氣密腔室，通過2個(ge) 快速自鎖接頭，充入保護氣氛

*可升級為(wei) 真空腔室，10-3mBar

5. 安裝固定：水平安裝

6. 台體(ti) 尺寸：150x150x36mm

電學特性

1. 探針：4個(ge) 固定式探針（紫銅鍍金）

2. 探針接口：默認為(wei) BNC接頭

*可升級為(wei) 同軸BNC

3. 樣品台麵電位：默認電懸空，可選電接地

配置清單

基本配置：

LRT-P1冷熱台 x1  高低溫控製器 x1  低溫冷卻循環機 x1   溫控軟件 x1

選配：

電腦主機/安裝支架/測試源表/同軸BNC/真空係統/濕度控製係統/定製控製軟件