描述：JK-SEM1900型原位冷熱台是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品台上（無需改造電鏡內部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現對冷熱台上的樣品進行控溫，穩定後溫控精度最高可達±0.1℃ 可實現樣品變溫測試的溫度範圍：-185~50℃ / -185~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。SEM原位冷熱台適合於各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高低溫結構研究，固定在現有樣品台上

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