描述：JKZC-ST4型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》並參考美國 A.S.T.M 標準
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。

JKZC-ST4型半導體(ti) 材料四探針測試儀(yi)

關(guan) 鍵詞：電阻，電阻率，四探針，半導體(ti)

膜探頭測薄膜                  鎢針探頭

一、產(chan) 品概述

    JKZC-ST4型數字式四探針測試儀(yi) 是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀(yi) 器。該儀(yi) 器設計符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》並參考美國 A.S.T.M 標準。

儀(yi) 器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。

儀(yi) 器適用於(yu) 半導體(ti) 材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體(ti) 、半導體(ti) 、類半導體(ti) 材料的導電性能的測試。

二、符合：

1、符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、

2、符合GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》

3、符合美國 A.S.T.M 標準

二、產(chan) 品應用：

1、測試矽類半導體(ti) 、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；

2、可測柔性材料導電薄膜電阻率/方阻

3、金屬塗層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）電阻率/方阻

4、納米塗層等半導體(ti) 材料的電阻率/方阻

5、電阻器體(ti) 電阻、金屬導體(ti) 的低、中值電阻以及開關(guan) 類接觸電阻進行測量

6、可測試電池極片等箔上塗層電阻率方阻

二、基本技術參數

1、  測量範圍

     電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω

   電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm

   方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

2、測量方式：自動或手動

3、基本精度：±0.1/%

4、四探針探頭：

   (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調

   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可

5. 電源：198V －242V(AC），47.5Hz －63Hz

6、操作環境：  0°C －40°C ，≤90%RH

7、外形尺寸：200mm（長）×220 mm（寬）×100mm（高）

8、數據傳(chuan) 輸方式；USB

9、軟件方式：人性化分析軟件界麵，數據自動生成 

                      分析軟件（一）