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  • XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀
    XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀

    諧振腔法是一種重要的材料測量方法,具有廣泛的應用前景。隨著科技的不斷發展,諧振腔法將會(hui) 在材料科學、電子工程、通信技術等領域發揮越來越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀(yi) 是為(wei) 中低損耗材料、均質材料、小樣品測試等需求而開發的一款高精度高性價(jia) 比的材料測試平台。融合矢量網絡分析儀(yi) 和試夾具於(yu) 一體(ti) ,可進行30MHz到110GHz頻率範圍內(nei) 的微波複介電常數測試。該係列產(chan) 品精度高、接口豐(feng)

    更新時間:2025-03-19型號:XZQ-5000型瀏覽量:1023
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  • WBFJ-1750型微擾法複介電常數測試係統
    WBFJ-1750型微擾法複介電常數測試係統

    微擾法複介電常數測試係統是采用諧振腔微擾法是一種用於(yu) 研究諧振器性能的方法,特別是在微波技術領域有廣泛應用。這種方法涉及到在諧振腔內(nei) 部引入微小的擾動,這些擾動可能來自於(yu) 腔壁的輕微變形或其他形式的局部變化,然後通過對微擾前後場量的對比和分析,來估算這些變化如何影響諧振腔的諧振頻率和其他相關(guan) 參數。微波介質材料介電特性的測量,對於(yu) 研究材料的微波特性和製作微波器件,獲得材料的結構信息以促進新材料的研製,以及

    更新時間:2025-03-20型號:瀏覽量:705
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  • JKZC-ST4半導體材料四探針測試儀
    JKZC-ST4半導體材料四探針測試儀

    JKZC-ST4型數字式四探針測試儀(yi) 是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀(yi) 器。該儀(yi) 器設計符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》並參考美國 A.S.T.M 標準 儀(yi) 器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。

    更新時間:2025-03-19型號:JKZC-ST4瀏覽量:2004
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  • AV-40G微波介質材料電磁特性參數測試係統
    AV-40G微波介質材料電磁特性參數測試係統

    微波介質材料目前已經廣泛應用於(yu) 航空航天、微波通信、隱身技術、微波通信、衛星通信、電子對抗、雷達導航、遙感、遙測等係統生物醫學、 電磁兼容等各領域在研發、生產(chan) 和使用微波介質材料時都需要測試其電磁特性參數,AV-40G型微波介質材料電磁特性參數測試係統是一款設計采用傳(chuan) 輸反射法進行寬頻帶掃頻測量,主要設備包括矢量網絡分析儀(yi) 、測試電纜、測試夾具和自動測量軟件,係統用於(yu) 測量固體(ti) 介質材料的介電常數、

    更新時間:2025-03-19型號:AV-40G瀏覽量:2389
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  • JKZC-G3型非接觸式靜電電壓表測量裝置
    JKZC-G3型非接觸式靜電電壓表測量裝置

    1. 概述 隨著工業(ye) 技術特別是信息產(chan) 業(ye) 發展,靜電對各部門的影響越來越大,靜電電壓表和靜電場強表使用越來越多,對靜電進行定期計量校準、標定檢定是確保靜電防護的基本條件。 JKZC-G係列靜電電壓表計量裝置能迅速準確計量校準、標定檢定目前國內(nei) 外大部分的靜電電壓表和靜電場強表.。標準型主要適用於(yu) 電子、航天、兵器、國防等與(yu) 電子元器件、電子設備相關(guan) 的行業(ye) 。

    更新時間:2025-03-19型號:瀏覽量:2112
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  • 非接觸式靜電電壓表校準裝置結構
    非接觸式靜電電壓表校準裝置結構

    非接觸式靜電電壓表校準裝置測量時勿需同帶電體(ti) 接觸,數字風速儀(yi) 不但能測量金屬體(ti) 的靜電,也能測量絕緣體(ti) 的靜電,且對被測量物體(ti) 影響小。非接觸式靜電電壓表校準裝置結構

    更新時間:2025-03-19型號:瀏覽量:2177
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