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  • JKZC-ST4半導體材料四探針測試儀
    JKZC-ST4半導體材料四探針測試儀

    JKZC-ST4型數字式四探針測試儀(yi) 是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀(yi) 器。該儀(yi) 器設計符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》並參考美國 A.S.T.M 標準 儀(yi) 器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。

    更新時間:2025-03-19型號:JKZC-ST4瀏覽量:2010
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