JK-150BPE型半導體(ti) 冷熱台又稱帕爾貼冷熱台，利用半導體(ti) 的熱-電效應製冷，配合循環水散熱，在 -30~150℃的溫度範圍內(nei) 進行控溫，實現樣品在開放式 / 氣密 / 真空環境下的變溫光學、電學等測試。

半導體(ti) 冷熱台JK-120BCH采用半導體(ti) 致冷，配合低溫循環液，實現從(cong) -40到180℃（選型）的控溫。 結構緊湊，適用於(yu) 各種變溫測試 氣密腔室設計，可通保護氣體(ti) 多探針測試 上位機軟件控製 支持改動或定製

半導體(ti) 冷熱台JK-120BPE、BPE100采用半導體(ti) 冷熱控製，配合循環水散熱，實現從(cong) -25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點。可以實現變溫光學測試，或者選配探針實現變溫電學測試。

探針冷熱台JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產(chan) 品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chan) 品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃範圍內(nei) 精準控製，與(yu) 其他電學儀(yi) 表（如電橋、源表、萬(wan) 用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。

探針熱台JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產(chan) 品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chan) 品采用電阻加熱的方式，實現RT~600℃範圍內(nei) 精準控製，與(yu) 其他電學儀(yi) 表（如電橋、源表、萬(wan) 用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。產(chan) 品需要與(yu) 溫度控製器配套使用，配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定製化編程。

JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸台的產(chan) 品，包含拉伸、壓縮、三點彎模塊。產(chan) 品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-100~50℃ (高溫以實際數據為(wei) 準)溫度下材料的動態應力應變特性測試。