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2017-11-08
+2018-10-25
+2022-09-21
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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電氣 |
GWJD-1000型高溫介電性能測量係統（四通道測試，同時測試4個(ge) 樣品）介紹：
關(guan) 鍵詞：高溫介電溫譜測試儀(yi) 、高溫介電性能測量係統、高溫介溫譜能係統。
產(chan) 品介紹：
GWJD-1000型高溫介電性能測量係統主要應用於(yu) 高溫下材料的介電性能測試與(yu) 分析，包括介電常數、介電損耗、電容等參數，同時測試出測試材料的其他阻抗參數，廣泛應用於(yu) 陶瓷材料、半導體(ti) 器件及功能薄膜材料等研究 。
產(chan) 品優(you) 勢：
1.耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好
2.四通道測試，可以同時測試1-4個(ge) 樣品，方便快捷
3.數據分析軟件：提供多種掃描曲線，可以在多窗口之間切換數據
《符合ASTMD150和D2149-97標準>><<符合GB/T1409-2006介電常數和介電損耗的推薦方法》
產(chan) 品特點：
1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體(ti) 、薄膜樣品的介電性能
2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能
3.可以測量樣品的介電常數、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質因數Q，阻抗Z等物理量；以實現介電常數和介電損耗隨多個(ge) 溫度、多個(ge) 頻率變化的曲線，時間和電壓變化的曲線
4.可提供塊體(ti) ，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求
高溫介電溫譜測試儀(yi) 主要技術指標：
測量溫度：室溫-1000°C | 升溫斜率：2°C/min |
頻率範圍：20-30MHZ | 精度：0.05% |
測量精度：±0.1°C | 控溫精度：±1°C（PID精準控溫） |
高溫樣品杆：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好 | 測試方法：兩(liang) 線法或四線法 |
測試通道數：1-4通道 | 一次可測樣品數：1-4個(ge) 樣品 |
樣品尺寸：直徑小於(yu) 2-10mm，厚度小於(yu) 1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸 | 測量精度：0.05% |
AC電平：0V到1Vrms | 直流偏壓：0到±40V/100mA |
數據存儲(chu) ：EXCEL表格等多種格式 | 加熱方式：電阻絲(si) 加熱 |
真空度範圍：100Pa-1大氣壓 | 電極材料：鉑金 |
數據傳(chuan) 輸：4個(ge) USB接口 | 儀(yi) 器通訊：USB或GPIB |
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