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2022-10-18
+2020-08-27
+2016-07-08
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目前常規的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質的能量密度，測試時，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負載上，通過電滯回線測得的儲(chu) 能密度一般會(hui) 大於(yu) 樣品實際釋放的能量密度，無法正確評估電介質材料的正常放電性能。DCD-100儲(chu) 能型電介質充放電測試係統專(zhuan) 為(wei) 研究儲(chu) 能電介質材料快速充放電性能而設計，適用陶瓷、薄膜材料，可進行變溫下的欠、過阻尼充放電測試。是目前研究儲(chu) 能材料的重要科研設備，是目前高等院校和
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