HTIM-1001型高溫絕緣電阻測試儀(yi) 根據歐姆定律，被測電阻Rx等於(yu) 施加電壓V除以通過的電流I。傳(chuan) 統的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從(cong) 歐姆定律可以看出，由於(yu) 電流I是與(yu) 電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為(wei) 零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個(ge) 刻度是非線性的。又由於(yu) 測量不同的電阻時，其電壓V也

HTIM-1600超高溫絕緣電阻測試儀(yi) 采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集係統，實現了是以往產(chan) 品300倍的抗幹擾功能最快6.4ms的高速測量，作為(wei) 皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，能不受測量環境影響進行穩定測量，並且運用在產(chan) 線中實現高速測量。可實現絕緣材料

HTRC-800型高溫導電材料電阻率測試係統是一款用於(yu) 測量材料電阻，電導率的專(zhuan) 用設備，采用由四端測量方法測試電阻率係統與(yu) 高溫試驗箱為(wei) 一體(ti) 的專(zhuan) 用的高溫測試係統，滿足半導體(ti) 及導體(ti) 材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線． 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用於(yu) 碳

PRTS-4A全自動掃描四探針測試係統通過采用四探針雙位組合測量技術，將範德堡測量方法推廣應用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換，進行兩(liang) 次電測量，其最後計算結果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械遊移等因素所引起的，對測量結果的不利影響。因而在測試過程中，在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表麵上的位置等因素。這種動態地對以上不利因素的自動修正，

JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀(yi) 是一款兼容高溫功能的精密阻抗分析儀(yi) ，是一款能夠應用於(yu) *材料測試的多功能複合型精密阻抗分析儀(yi) ，該阻抗分析儀(yi) 可以兼容多種高溫夾具，可以測試粉末，液體(ti) ，塊體(ti) 等多種不同類型的樣品。常溫下測試數據豐(feng) 富，高溫下測試數據穩定，無漂移。是一款兼顧中頻率的精密阻抗分析儀(yi) 。在陶瓷及*材料生產(chan) 中和科研院校廣泛使用。

JKZC-HRE01型絕緣材料體(ti) 電阻和表麵電阻超高阻測試儀(yi) 是一款即可測試絕緣材料超高阻，又可以測試微電流的精密測量裝置，用了大規模集成電路,使儀(yi) 器體(ti) 積小、重量輕、準確度高。能夠直接顯示電阻的高阻計和電流值，量限從(cong) 0.01×104Ω ～1×1018 Ω，電流測量範圍為(wei) 2×10-4 ～1×10-16Ａ。機內(nei) 測試電壓為(wei) 10/50/100/250/500/1000V任意可調。本儀(yi) 器具有精度高、顯示迅速、性