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2024-11-05
+2018-03-09
+2018-08-14
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詳細介紹
| 品牌 | ACE Controls/美國 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子,冶金,航天,電氣 |
JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀(yi)
關(guan) 鍵詞：阻抗，高溫，導納圖，掃描,50MHZ
JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀(yi) 是一款兼容高溫功能的精密阻抗分析儀(yi) ，是一款能夠應用於(yu) *材料測試的多功能複合型精密阻抗分析儀(yi) ，該阻抗分析儀(yi) 可以兼容多種高溫夾具，可以測試粉末，液體(ti) ，塊體(ti) 等多種不同類型的樣品。常溫下測試數據豐(feng) 富，高溫下測試數據穩定，無漂移。是一款兼顧中頻率的精密阻抗分析儀(yi) 。在陶瓷及*材料生產(chan) 中和科研院校廣泛使用。
一、主要應用：
1、*材料測試：高溫及常溫介電常數、彈性常數等C-V特性
2、高溫及常溫無源元件測試：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
3、高溫及常溫半導體(ti) 元件：LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性；晶體(ti) 管或集成電路的寄生參數分析
4、高溫及常溫其它元件：印製電路板、繼電器、開關(guan) 、電纜、電池等阻抗評估
5高溫及常溫介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
6、高溫及常溫磁性材料：鐵氧體(ti) 、非晶體(ti) 和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
7、高溫及常溫半導體(ti) 材料：半導體(ti) 材料的介電常數、導電率和C-V特性
二、主要特點：
1、高溫及常溫進行*材料測試阻抗各參數測試：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點F1與(yu) F2、導納Gmax、靜電容C0、動態電抗R1、動態電容C1、動態電感L1、自由電容CT、自由介電常數、機械品質因素Qm、機電耦合係數Keff、Kp、K31、K33等
2、多種探頭滿足壓電陶瓷，液體(ti) ，及粉末相關(guan) 電學性能測試
3、高溫夾具及常溫測試裝置，設計精巧靈活，測試數據可靠
4、50MHZ高頻阻抗頻率滿足測試需求
5、1000攝氏度高溫條件下測試數據穩定無漂移，曲線與(yu) 溫度對應
6、軟件功能豐(feng) 富，數據即讀取，方便快捷
三、主要技術參數：
1、頻率範圍：20HZ-50MHZ
2、溫度：室溫-1000℃
3、阻抗參數：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點F1與(yu) F2、導納Gmax、靜電容C0、動態電抗R1、動態電容C1、動態電感L1、自由電容CT、自由介電常數、機械品質因素Qm、機電耦合係數Keff、Kp、K31、K33等
4、電極材質:鉑銥合金(樣品有無電均可以測試)同軸屏蔽層
5、上電極 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層
6、下電極： 直徑26.8mm平麵電極，引線帶同軸屏蔽層
7、保護電極： 消除寄生電容、邊界電容對測試的影響
8、電極幹擾屏蔽： 電極引線帶同軸屏蔽，樣品平台帶屏蔽罩
9、夾具升降控製： 帶程序和手動控製，可更換夾具的電動升降裝置
10、熱電偶: 雙探頭
11、無電極樣品尺寸 : 直徑小於(yu) 40mm，厚度小於(yu) 8mm
12、帶電極樣品尺寸: 直徑小於(yu) 26mm，厚度小於(yu) 8mm
13、軟件功能：自動分析數據，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成係統所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
14、測量方案 提供靈活、豐(feng) 富的測試設置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合
15、接口方式：包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口，
16、外形尺寸: L360mm*W370mm*H510mm
17、淨 重: 22KG
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