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2019-07-23
+2019-05-28
+2025-03-26
+DCD-100型儲(chu) 能電介質充放電測試係統 關(guan) 鍵詞:儲(chu) 能,電介質,充放電 目前常規的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質的能量密度,測試時,樣品的電荷是放回到高壓源上,而不是釋放到負載上,通過電滯回線測得的儲(chu) 能密度一般會(hui) 大於(yu) 樣品實際釋放的能量密度,無法正確評估電介質材料的正常放電性能。DCD-100儲(chu) 能型電介質充放電測試係統專(zhuan) 為(wei) 研究儲(chu) 能電介質材料快速充放電性能而設計,適用陶瓷、薄膜材料,可進行