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2019-09-12
+2019-08-12
+2025-03-03
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詳細介紹
| 品牌 | ACE Controls/美國 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
BKTEM-B2薄膜熱電參數測試係統
關(guan) 鍵詞：薄膜熱電，賽貝克係數，Seebeck，四線法
為(wei) 解決(jue) 日益緊迫的能源危機，太陽能、風能、核能等多種新能源不斷被開發利用。新能源的使用需要優(you) 質的節能材料。利用熱電材料製成的製冷和發電係統，具有體(ti) 積小、重量輕、無任何機械噪音、不造成任何環境汙染等眾(zhong) 多優(you) 點。因此對熱電材料的研究非常重要。為(wei) 了進一步提高熱電材料的轉化效率（熱電優(you) 值），對其研究從(cong) 塊體(ti) 慢慢轉移到薄膜材料。
技術原理
動態法：測量 Seebeck 係數
在待測溫場下給樣品兩(liang) 端加一個(ge) 連續變化的微小溫差，通過記錄樣品兩(liang) 端溫差和熱電勢的變化，
然後將溫差和熱電勢擬合成一條直線，直線斜率即為(wei) 該材料在該溫場下的 Seebeck 係數。
采用四線法測量電阻率。 硬件特點
專(zhuan) 門針對薄膜材料的 Seebeck 係數和電阻率測量。
采用動態法測量 Seebeck 係數,避免了靜態測量在溫差測量上的係統誤差,測量更準確。
采用四線法測量電阻率，測量更加穩定可靠。
薄膜熱電參數測試係統
技術原理
動態法：測量 Seebeck 係數
在待測溫場下給樣品兩(liang) 端加一個(ge) 連續變化的微小溫差，通過記錄樣品兩(liang) 端溫差和熱電勢的變化，
然後將溫差和熱電勢擬合成一條直線，直線斜率即為(wei) 該材料在該溫場下的 Seebeck 係數。
采用四線法測量電阻率。 硬件特點
專(zhuan) 門針對薄膜材料的 Seebeck 係數和電阻率測量。
采用動態法測量 Seebeck 係數,避免了靜態測量在溫差測量上的係統誤差,測量更準確。
采用四線法測量電阻率，測量更加穩定可靠。
1. 實現功能：在室溫溫場下可同步測量Seebeck係數和電阻率；
2. 電勢測量：采集係統采用商業(ye) 高分辨數字萬(wan) 用表；
3. 溫差測量：溫差精度控製：+/-0.1K，控溫速率：0.02–50K/min；溫差控製：0-80K ；
4. Seebeck係數和電阻測量方法：Seebeck係數-靜態直流法, 多溫差法，電阻率-四端法；
5. Seebeck係數測量範圍和分辨率：1μV/K-25V/K；測量分辨率：10nV/K；
6. 電阻率測量範圍和分辨率：0.2μOhmm-2.5Ohmm；測量分辨率：10nOhmm；
7. 測量精度：Seebeck 係數 : +/- 7%，電阻率 : +/- 10%；
8. 樣品尺寸：直徑或正方形 6-12mm，長度6-22mm，正反麵電極均可；
9. 探頭測試間距：6, 8 mm，任選一種；
10. 外接電源：單相220V ，50Hz；
11. 軟件：圖形化界麵， windows 菜單，數據采集；加熱恒溫降溫溫度程序化設計；易於(yu) 操作的菜單設計，測量結果可以txt，EXC
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