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2025-03-25
+2025-03-19
+2024-11-25
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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,航空航天,綜合 |
FE-5001型鐵電參數測試儀(yi) /PUND測試
關(guan) 鍵詞：電滯回線，疲勞Fatigue，漏電流LM，電流-偏壓
FE-5001型鐵電參數測試儀(yi) /PUND測試是一款功能豐(feng) 富的鐵電參數測試儀(yi) /PUND測試，可廣泛地應用於(yu) 如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體(ti) 材料和電子陶瓷、鐵電傳(chuan) 感器/執行器/存儲(chu) 器等領域的研究。
鐵電參數測試主要性能指標：
a. 外接5 kV高壓放大器；
b. 動態電滯回線測試頻率範圍0.01 Hz ～ 1 kHz；
c. 最大電荷解析度：10 mC；
d. 疲勞測試頻率300 kHz（振幅10 Vpp，負載電容1 nF）；
e. 漏電流測量範圍 1 pA ～ 20 mA，分辨率0.1 pA；
f. 配有高壓擊穿保護模塊。
本測試係統由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平台（配鐵電測試盒）或高低溫探針台（配高壓探針）、計算機及係統軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發生器、內(nei) 置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器、通訊總線等功能，主控器提供擴展外置高壓放大器接口，可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。係統軟件包括可視化數據采集和管理功能，測試時，無需改變測試樣品的連接，即可實現滯回，脈衝(chong) ，漏電，IV等性能測試。
本鐵電參數測試儀(yi) /PUND測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法，與(yu) 傳(chuan) 統的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅(jin) 取決(jue) 於(yu) 積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，容易定標和校準，並且能實現較高的測量準確度。
該係統測試功能：
動態電滯回線DHM
I-V特性
脈衝(chong) PUND
疲勞Fatigue
漏電流LM
電流-偏壓。
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