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型號：
JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統

描述：JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統是一款專用介電常數介質損耗測試係統由S916測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計製作。

  • 廠商性質

    生產廠家

  • 更新時間

    2025-02-13

  • 訪問量

    496
詳細介紹
品牌其他品牌產地類別國產
應用領域能源,電子,航天,綜合

JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統

  JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統

關(guan) 鍵詞：介電常數（ε）和介質損耗（tanδ），塊體(ti) ，粉末

JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統是一款專(zhuan) 用介電常數介質損耗測試係統由S916測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會(hui) IEC60250的規定設計製作。係統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決(jue) 方案。本儀(yi) 器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為(wei) 指示儀(yi) 器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。高頻Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。

一 JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統本設備適用標準
1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nei) )下電容率和介質損耗因數的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
3 ASTM-D150-介電常數測試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法

二 JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統主要測試材料:
1 固體(ti) 材料：絕緣導熱矽膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA,大米,豬肉等 2 液體(ti) 材料：去離子水,全氟聚醚,果汁,甲醇,油類等

三 AS2855介電常數及介質損耗測試係統係統組成：

1 主機：JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統主機

功能名稱：

JKZC-JDS04-A主機QBG-3E

JKZC-JDS04-B主機QBG-3F

JKZC-JDS04-C主機AS2853A

信號源範圍DDS數字合成信號

20HZ-1MHz

10KHZ-/70MHZ/110MHz

100KHZ-160MHz

信號源頻率精度:6位有效數

3×10-5 ±1個(ge) 字

3×10-5 ±1個(ge) 字

3×10-5 ±1個(ge) 字

Q測量範圍

1-1000自動/手動量程

1-1000自動/手動量程

1-1000自動/手動量程

Q分辨率

4位有效數,分辨率0.1

4位有效數,分辨率0.1

4位有效數,分辨率0.1

Q測量工作誤差

<5%

<5%

<5%

電感測量範圍:4位有效數,分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H 分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

電感測量誤差

<5%

<5%

<5%

調諧電容

主電容30-540pF

主電容30-540pF

主電容17-240pF

電容直接測量範圍

1pF～2.5uF

1pF～2.5uF

1pF～25nF

調諧電容誤差
分辨率

±1 pF或<1%
0.1pF

±1 pF或<1%
0.1pF

±1 pF或<1%
0.1pF

諧振點搜索

自動掃描

自動掃描

自動掃描

LCD顯示參數

F，L，C，Q，Lt，Ct等

F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等

F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等

殘餘(yu) 電感自動扣除功能

有

有

有

大電容值直接測量顯示功能

測量值可達2.5uF

測量值可達2.5uF

測量值可達25nF

介質損耗係數

精度 萬(wan) 分之一

精度 萬(wan) 分之一

精度 十萬(wan) 分之五

介電常數

精度 千分之一

精度 千分之一

精度 千分之一

材料測試厚度

0.1mm-15mm

0.1mm-15mm

0.1mm-15mm

介電常數

自動測試

自動測試

自動測試

USB接口



支持介電常數輸出以及產(chan) 生曲線

JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統介電常數

JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統介質損耗

JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試係統 USB接口上位機（介電常數曲線）

2介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：

　　固體(ti) 電極：材料測量直徑 Φ38mm/Φ6mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm （二選一）
　　液體(ti) 電極：測量極片直徑 Φ38mm； 液體(ti) 杯內(nei) 徑Φ48mm 、深7mm（選配）


3 LKI-1電感組

電感No

電感量

準確度%

Q值≥

分布電容約略值

諧振頻率範圍 MHz

適合介電常數測試頻率

QBG-3E/F

AS2853A

1

0.1μH

±0.05μH

200

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

200

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

10

0.05μH

±5%

100

5pF



100MHz




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