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型號:JKZC-JD01型
高頻絕緣材料介電常數 介電測試儀

描述:JKZC-JD01高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試係統由測試裝置(夾具)、型高頻主機、數據采集和tanδ自動測量控件及校準電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計製作。係統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成,平

  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2025-03-20
  • 訪問量

    424
詳細介紹
品牌其他品牌產地類別國產
應用領域環保,能源,電子/電池,航空航天,綜合

JKZC-JD01高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試係統 介電常數測試儀(yi)

關(guan) 鍵詞:介電常數(ε)介質損耗(tanδ),絕緣材料

JKZC-JD01型高頻絕緣材料介電常數

 

JKZC-JD01高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試係統由測試裝置(夾具)、型高頻主機、數據采集和tanδ自動測量控件及校準電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會(hui) IEC60250的規定設計製作。係統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決(jue) 方案。本儀(yi) 器中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用主機作為(wei) 指示儀(yi) 器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到,設備能夠自動計算介電常數(ε)和介質損耗(tanδ),是電氣材料研究和高等院校的重要設備。


介電常數測試儀(yi) 適用標準

1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nei) )下電容率和介質損耗因數的推薦方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法

3 ASTM-D150-介電常數測試方法

4GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測

介電常數/介質損耗測試係統係統組成:

應用範圍:
1 固體(ti) 材料:絕緣導熱矽膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA,大等

2 液體(ti) 材料:去離子水,全氟聚醚,果汁,,甲醇,油類等

 

功能名稱:

JKZC-JD01

JKZC-JD02

JKZC-JD03

頻率

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

100KHZ-160MHz

信號源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

16000:1

信號源頻率精度 6位有效數

3×10-5 ±1個(ge) 字  

3×10-5 ±1個(ge) 字   

3×10-5 ±1個(ge) 字   

采樣精度

11BIT

11BIT

12BIT

高精度的AD采樣,了Q值的穩定性,以及低介質損耗材料測試時候的穩定性

Q測量範圍

1-1000自動/手動量程

1-1000自動/手動量程

1-1000自動/手動量程

Q分辨率

4位有效數,分辨率0.1

4位有效數,分辨率0.1

4位有效數,分辨率0.1

Q測量工作誤差

<5%

<5%

<5%

電感測量範圍 4位有效數,分辨率0.1nH

1nH-8.4H ,分辨率0.1nH

1nH-8.4H 分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

電感測量誤差

<3%

<3%

<3%

調諧電容

主電容30-540pF

主電容30-540pF

主電容17-240pF

電容直接測量範圍

1pF~2.5uF

1pF~2.5uF

1pF~25nF

調諧電容誤差

分辨率

±1pF或<1%

0.1pF

±1pF或<1%

0.1pF

±1pF或<1%

0.1pF

諧振點搜索

自動掃描

自動掃描

自動掃描

Q合格預置範圍 

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

Q量程切換

自動/手動

自動/手動

自動/手動

LCD顯示參數

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

自身殘餘(yu) 電感和測試引線電感的自動扣除功能()

大電容值直接測量顯示功能()

測量值可達2.5uF

測量值可達2.5uF

測量值可達25nF

介質損耗係數

精度 萬(wan) 分之三

精度 萬(wan) 分之三

精度 萬(wan) 分之一

介損係數

萬(wan) 分之一

萬(wan) 分之一

萬(wan) 分之一

介電常數

精度 千分之一

精度 千分之一

精度 千分之一

材料測試厚度

0.1mm-10mm

0.1mm-10mm

0.1mm-10mm

 

 

 
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