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2025-03-25
+2025-03-19
+2024-11-25
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詳細介紹
| 品牌 | Microtrac/拜爾 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣 |
FE-5000型鐵電薄膜測試儀(yi)
FE-5000W型電致應變鐵電測試儀(yi) 是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設備可以適用於(yu) 鐵電薄膜、鐵電體(ti) 材料（既可塊體(ti) 材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值。可以進行電致應變測試，可以蝴蝶曲線功能，設備還可以擴展高溫電阻，高溫介電，電容-電壓曲線，TSC/TSDC等功能。本儀(yi) 器是從(cong) 事壓電材料及壓電元件生產(chan) 、應用與(yu) 研究部門的重要設備之一，已經在各大高校和科研院所廣泛使用。
二、主要技術指標：
1、輸出信號電壓：：±5000V（可擴展至10 kV）,可擴展電致應蝴蝶曲線功能
2、溫度；室溫-200℃，控溫精度：±1℃
3、控製施加頻率0.01到250KHz（陶瓷、單晶，薄膜）PC端軟件控製自定義(yi) 設置；
4、控製輸出電流0到±50mA連續可調，PC端軟件控製自定義(yi) 設置。
5、動態電滯回線測試頻率範圍 0.01Hz-5kHz
7、最小脈寬保持時間為(wei) 20us;最小上升沿時間為(wei) 10us;
8、疲勞測試頻率500kHz（振幅10 Vpp，負載電容1 nF）；使用高壓放大器後疲勞頻率最高5kHz;
9、測試速度：測量時間《5秒/樣品•溫度點
10、樣品規格：塊體(ti) 材料尺寸：直徑2-100mm，厚度0.1-10mm
11、主要功能： 動態電滯回線DHM，靜態電滯回線SHM，I-V特性，脈衝(chong) PUND，疲勞Fatigue，電擊穿強度BDM，漏電流LM，電流-偏壓，保持力RM，
10. 電荷解析度不小於(yu) 10 mC;
漏電流測量範圍:1pA~ 20 mA，分辨率不低於(yu) 0.1pA;
12、控製方式：計算機實時控製、實時顯示、實時數據計算、分析與(yu) 存儲(chu)
13、軟件采集：自動采集軟件，分析可以兼容其他相關(guan) 主流軟件。
14、測試精度：±0.05%
15、內(nei) 置電壓：±20V
鐵電參數測試主要性能指標：
a. 外接5 kV高壓放大器；
b. 動態電滯回線測試頻率範圍0.01 Hz ～ 1 kHz；
c. 最大電荷解析度：10 mC；
d. 疲勞測試頻率300 kHz（振幅10 Vpp，負載電容1 nF）；
e. 漏電流測量範圍 1 pA ～ 20 mA，分辨率0.1 pA；
f. 配有高壓擊穿保護模塊。
本測試係統由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平台（配鐵電測試盒）或高低溫探針台（配高壓探針）、計算機及係統軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發生器、內(nei) 置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器、通訊總線等功能，主控器提供擴展外置高壓放大器接口，可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。係統軟件包括可視化數據采集和管理功能，測試時，無需改變測試樣品的連接，即可實現滯回，脈衝(chong) ，漏電，IV等性能測試。
本鐵電參數測試儀(yi) /PUND測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法，與(yu) 傳(chuan) 統的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅(jin) 取決(jue) 於(yu) 積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，容易定標和校準，並且能實現較高的測量準確度。
該係統測試功能：
動態電滯回線DHM
I-V特性
脈衝(chong) PUND
疲勞Fatigue
漏電流LM
電流-偏壓。
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