JKZC-UC係列高低溫探針台是一款在非真空條件下實現低溫環境的測試探針台。該產(chan) 品釆用液氮或者空氣壓縮機製冷 ,自動控溫，設備配置非常豐(feng) 富。自帶屏蔽暗室，一方麵可以屏蔽無線電磁幹擾，另外一方麵也可以保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜。此設備對於(yu) 一些有溫度需求的測試，尤其是低溫，運用非常廣泛。

JKZC-DSH係列探針台是我司自主研發的一款雙麵探針台，最大可完成12英寸晶圓的正反麵點針測試。在具備常 規探針台的功能基礎上,可用於(yu) 晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正麵和背麵同時紮針以實現各種 光/電性能測試需求的測試，或背麵點針，正麵收集光線等,運用十分豐(feng) 富。該定製探針台具有優(you) 良的機械係統，穩定的結構，符合人體(ti) 工程學，以及多項升級功能。

JKZC-DM係列探針台是我司一款基於(yu) 高校教育與(yu) 實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針台。其結構緊湊，設計精密，價(jia) 格實惠，配置靈活，高性價(jia) 比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用，配合對應的儀(yi) 器儀(yi) 表，用於(yu) 測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大於(yu) 50um,此係列探針台。

GDWT-480型全自動型高低溫真空探針台主要應用於(yu) I-V/C-V，PIV測試,傳(chuan) 感器，半導體(ti) ，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用於(yu) 複雜、高速器件的精密電子樣品測量的研發，旨在確保質量及可靠性，並縮減研發時間和器件製造工藝的成本，可以配合Keithley,Tektronix等國內(nei) 外各種源表對材料進行測試，可以做材料的介電，鐵電等測試,是目前高等院校和研究所及材料生產(chan) 單位的重要輔助設備。