當前位置:首頁  >  raybet雷竞技官网在线下载  >  半導體材料測試儀  >  半導體C-V特性分析儀
  • SCD-1500型半導體C-V特性分析儀
    SCD-1500型半導體C-V特性分析儀

    SCD-1500型半導體(ti) C-V特性分析儀(yi) 創新性地采用了雙CPU架構、Linux底層係統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界麵、內(nei) 置使用說明及幫助等新一代技術,適用於(yu) 生產(chan) 線快速分選、自動化集成測試及滿足實驗室研發及分析。半導體(ti) C-V特性分析儀(yi) 測試頻率為(wei) 10kHz-2MHz,VGS電壓可達±40V,足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體(ti) 件CV特性測試分析。

    更新時間:2025-02-12型號:瀏覽量:892
    查看詳情
共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁