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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
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壓電材料測試儀(yi) （準靜態d33/d31（+d15）測量儀(yi) ）是為(wei) 測量壓電材料的d33常數而設計的儀(yi) 器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d33/d15常數，儀(yi) 器測量範圍寬，分辨率細，可靠性高，操作簡單。
粉末材料RAYBET雷竞技及时是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀(yi) 器，該儀(yi) 器采用通用的電流、電壓四端子測量法（儀(yi) 器電流源和電壓表兩(liang) 個(ge) 單元分別從(cong) 獨立回路連至電極同時和樣品接觸），可以消除電極與(yu) 連接導線導通電阻產(chan) 生的誤差，克服了傳(chuan) 統的二端法測量粉末電阻率儀(yi) 器的弊病，可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重複性也好。
ZJ-3壓電材料測試儀(yi) （靜壓電係數d33測量儀(yi) ）是為(wei) 測量壓電材料的d33常數而設計的儀(yi) 器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。
高溫介電溫譜測試儀(yi) 主要應用於(yu) 高溫下材料的介電性能測試與(yu) 分析，包括介電常數、介電損耗、電容等參數，同時測試出測試材料的其他阻抗參數，廣泛應用於(yu) 陶瓷材料、半導體(ti) 器件及功能薄膜材料等研究 。
JKZC-JD01高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試係統由測試裝置（夾具）、型高頻主機、數據采集和tanδ自動測量控件及校準電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會(hui) IEC60250的規定設計製作。係統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決(jue) 方案。本儀(yi) 器中測試裝置是由平板電容器組成，平
HTIM-1001型高溫絕緣電阻測試儀(yi) 根據歐姆定律，被測電阻Rx等於(yu) 施加電壓V除以通過的電流I。傳(chuan) 統的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從(cong) 歐姆定律可以看出，由於(yu) 電流I是與(yu) 電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為(wei) 零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個(ge) 刻度是非線性的。又由於(yu) 測量不同的電阻時，其電壓V也
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