熱刺激理論是在介質物理的基礎上發展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實用而且又能較準確地測量出某些物質（如電介質、絕緣材料、半導體(ti) 、駐極體(ti) 等）的微觀參數，熱刺激法是一麵對材料升溫一麵進行測量，即非等溫測量。由於(yu) 材料（例如介電材料）中的荷電粒子的微觀參數（如活化能h、鬆弛時間τ等）不同，用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開來，從(cong) 而求出各自的參數。因為(wei) 熱刺激電流與(yu) 材料的

TDT-3000 Analyzer型擴展型鐵電分析儀(yi) 是一款的高速型模塊化鐵電壓電分析儀(yi) ，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與(yu) 激光幹涉儀(yi) 和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳(chuan) 感器聯用，可廣泛地應用於(yu) 如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體(ti) 材料和電子陶瓷、鐵電傳(chuan) 感器/執行器/存儲(chu) 器等領域的研究。 模塊化設計的TDT-3000型鐵電分析儀(yi) 具有優(you) 異的擴展性，提供高達15中測試功能

TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀(yi) ，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測試功能，可與(yu) 激光幹涉儀(yi) 和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳(chuan) 感器聯用，適用於(yu) 薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測試。

ZJ-4型靜壓電D33電壓電流測試儀(yi) 是一款在原來的設備基礎上，額外增加了電壓和電流采集係統的功能，該功能主要是針對壓電PVDF薄膜，在不同的運動和力的變化條件下，測試其壓電性能變化，是研究壓電薄膜性能的重要設備。也是本儀(yi) 器是從(cong) 事壓電材料及壓電元件生產(chan) 、應用與(yu) 研究部門的儀(yi) 器。二、參考標準: GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測試方法 縱向壓電應變常數d33的靜態測試》GB/T3389.5-

JKZC-YDZK03B型壓電介電阻抗分析儀(yi) 是一款可以跟PC鏈接測試功能的壓電介電阻抗分析儀(yi) ，內(nei) 置±12 V，±24V直流電壓，可以量測壓電/超聲器件之導納圓繪圖，電容/半導體(ti) 材料/變容二級管量測DC偏壓特性(C-V 曲線)，高分子材料/介質材料/電化學阻抗測量介電常數εr，采用自動平衡技術，測試數據可靠，滿足目前試驗測試要求，解決(jue) 了目前測試壓電D33係數，又要測試壓電阻抗的係列問題，為(wei) 材料研究測

ZJ-4BN型壓電壓電薄膜D31測試儀(yi) （靜壓電係數d33測量儀(yi) ）是為(wei) 測量壓電材料的d33,D15塊體(ti) ，D15圓管，D31薄膜係數常數而設計的專(zhuan) 用儀(yi) 器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。特別是薄膜D31係數采用拉伸懸梁臂法進行壓電常數測試，是一種新的測試方法，對於(yu) 研究壓電材料和壓電PVDF薄膜有著重要意義(yi) ，在材料生產(chan) 和薄膜研究中有這要意義(yi) 。二、主要應用領