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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
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GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量係統是國內(nei) 符合LXI標準的新一代高溫壓電阻抗測試儀(yi) 器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率範圍可以滿足元件與(yu) 材料絕大部分低壓參數的測量要求，可廣泛應用於(yu) 諸如傳(chuan) 聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
TSDC/TSC--400 型熱激勵去極化電流測量係統（thermally stimulated depolarization currents, 簡寫(xie) 為(wei) TSDC或TSC）是電介質材料在受熱過程中建立極化態或解除極化態時所產(chan) 生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩(liang) 電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發，然後施加一個(ge) 直流的極化電壓，經過一段時間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向，
YDB-03型非接觸式表麵電壓測量儀(yi) 是一款應用於(yu) 壓電陶瓷，壓電薄膜等極化後，采用非接觸方式測量其表麵的電壓，電流等功能的實驗裝置，同時測量絕緣體(ti) 、半導體(ti) 或導體(ti) 表麵電位測量，可以配合軟件進行曲線成圖分析，是在目前材料表麵電壓測量中是重要的科研設備。
GWJDN-800型四通道高低溫介電測量係統應用於(yu) 高溫環境下材料、器件的導電、介電特性測量與(yu) 分析，通過配置不同的測試設備，完成不同參數的測試。是一代高溫介電測試係統，性能*，*科研級別的精密測試裝置，是國家科研院所和高等學府的設備。
ZJ-3型壓電薄膜測試儀(yi) 是一款即可測量薄膜材料的D33係數，也可以測量塊體(ti) 材料的靜壓電D33係數，該設備測試數據準確，性能穩定，不僅(jin) 是可以用科學研究，還可以用於(yu) 壓電材料的生產(chan) ，目前在國內(nei) 外廣泛使用.
目前常規的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質的能量密度，測試時，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負載上，通過電滯回線測得的儲(chu) 能密度一般會(hui) 大於(yu) 樣品實際釋放的能量密度，無法正確評估電介質材料的正常放電性能。DCD-100儲(chu) 能型電介質充放電測試係統專(zhuan) 為(wei) 研究儲(chu) 能電介質材料快速充放電性能而設計，適用陶瓷、薄膜材料，可進行變溫下的欠、過阻尼充放電測試。是目前研究儲(chu) 能材料的重要科研設備，是目前高等院校和
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