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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
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DCD-100型儲(chu) 能電介質充放電測試係統專(zhuan) 為(wei) 研究儲(chu) 能電介質材料快速充放電性能而設計，適用陶瓷、薄膜材料，可進行變溫下的欠、過阻尼充放電測試。
PTC/NTC-500高溫熱敏電阻材料參數測量分析係統關(guan) 鍵詞:熱敏材料,電阻,伏安特，電壓
HTGSRM-1000高溫氣敏電阻測量係統主要用於(yu) 測量電阻型氣體(ti) 傳(chuan) 感器材料的氣敏特性，采用兩(liang) 線或四線電阻測量原理設計開發。該係統采用外部控溫，使得氣敏元件測試擺脫了對器件的依賴，*保持材料的形貌和結構。測量係統支持動態配氣係統及高真空抽氣係統，從(cong) 而有利於(yu) 表征材料在不同的濃度（ppb甚至ppt量級）及氣壓（特別是氧壓）下的氣敏特性。該係統可用於(yu) 實驗，批量生產(chan) 中各種納米材料、厚膜/薄膜材料、孔材料、
JZKC-JMZK05A精密阻抗分析儀(yi) （頻率：20HZ-10MHZ，精度：0.05%）產(chan) 品以其的性能可以實現商業(ye) 標準和軍(jun) 用標準如IEC和MIL標準的各種測試。 目前該阻抗分析在全國各大學校和科研院所中廣泛使用。
HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試係統是一款專(zhuan) 門用於(yu) 測量材料電阻，電導率的設備，采用由四端測量方法測試電阻率係統與(yu) 高溫試驗箱為(wei) 一體(ti) 的的高溫測試係統，滿足半導體(ti) 及導體(ti) 材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線． 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用於(yu) 碳係導電
GDPT-900A型高低溫壓電d33測量係統 關(guan) 鍵詞：低溫d33測量，高溫d33測量，空氣d33測量 GDPT-900A型高低溫壓電d33測量係統是我院研製的即可低溫測試D33係數，又可以高溫測試D33係數的高精度科研級精密裝置。這款裝置是針對複雜的研究環境中，可對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量。是應對目前市場上需求精度高，環境複雜，科研精度高
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