JWDL-1型金屬RAYBET雷竞技及时是一款針對於(yu) 不同金屬材料電阻測試的專(zhuan) 業(ye) 設備，不管是銅金屬材料，導電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導電薄膜、金屬塗層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米塗層都可以采用這款設備，金屬電阻率測試方案核心原則：一是可以用專(zhuan) 門測試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測試範圍能夠更好的為(wei) 你選配四探針測試儀(yi) 。金屬材料屬於(yu) 硬質材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探

DRJS-2型電容器金屬化膜測試儀(yi) 是一款專(zhuan) 門應用於(yu) 電容器薄膜測試的設備， PET薄膜上金屬化膜，真空鍍膜和噴鍍工藝形成，金屬膜厚度極薄，附著力差，容易脫落。 薄膜專(zhuan) 用測試探頭自帶彈簧收縮功能，很好的解決(jue) 了金屬膜的測試弱點，自主研發的高精準度測試儀(yi) 和專(zhuan) 用型測試台搭配，測試探頭測采用最新的平行四刀法，讓樣品測試數據更穩定，重複性更好。 DRJS-2型電容器金屬化膜測試儀(yi) 是目前納米材料和柔性材料研究的重

晶圓是指矽半導體(ti) 集成電路製作所用的矽晶片，其形狀為(wei) 圓形；晶圓高溫測試是集成電路行業(ye) 一道重要製程，通過嚴(yan) 格的高溫測試可以預先剔除不良芯片，降低後續高昂的封裝成本。WSHD-600型晶圓均勻加熱裝置是一種特殊設計的均勻加熱裝置。為(wei) 保證晶圓高溫測試精度，要求整個(ge) 吸盤表麵各點的溫度控製在設定溫度±1℃的範圍內(nei) ，最大可以達到±0.03℃，是目前研究晶圓半導體(ti) 重要輔助工具。

GDWT-480型全自動型高低溫真空探針台主要應用於(yu) I-V/C-V，PIV測試,傳(chuan) 感器，半導體(ti) ，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用於(yu) 複雜、高速器件的精密電子樣品測量的研發，旨在確保質量及可靠性，並縮減研發時間和器件製造工藝的成本，可以配合Keithley,Tektronix等國內(nei) 外各種源表對材料進行測試，可以做材料的介電，鐵電等測試,是目前高等院校和研究所及材料生產(chan) 單位的重要輔助設備。