JKZC-DCHH係列高低溫真空探針台是我司自主研發的一款在環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。通過液氮或者壓縮機製冷，可以在防輻射屏內(nei) 營造一個(ge) 穩定的測試環境。在特殊材料，半導體(ti) 器件等研究方向具有廣泛運用。

JKZC-UC係列高低溫探針台是一款在非真空條件下實現低溫環境的測試探針台。該產(chan) 品釆用液氮或者空氣壓縮機製冷 ,自動控溫，設備配置非常豐(feng) 富。自帶屏蔽暗室，一方麵可以屏蔽無線電磁幹擾，另外一方麵也可以保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜。此設備對於(yu) 一些有溫度需求的測試，尤其是低溫，運用非常廣泛。

JKZC-DSH係列探針台是我司自主研發的一款雙麵探針台，最大可完成12英寸晶圓的正反麵點針測試。在具備常 規探針台的功能基礎上,可用於(yu) 晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正麵和背麵同時紮針以實現各種 光/電性能測試需求的測試，或背麵點針，正麵收集光線等,運用十分豐(feng) 富。該定製探針台具有優(you) 良的機械係統，穩定的結構，符合人體(ti) 工程學，以及多項升級功能。

JKZC-DM係列探針台是我司一款基於(yu) 高校教育與(yu) 實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針台。其結構緊湊，設計精密，價(jia) 格實惠，配置靈活，高性價(jia) 比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用，配合對應的儀(yi) 器儀(yi) 表，用於(yu) 測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大於(yu) 50um,此係列探針台。

SCD-1500型半導體(ti) C-V特性分析儀(yi) 創新性地采用了雙CPU架構、Linux底層係統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界麵、內(nei) 置使用說明及幫助等新一代技術，適用於(yu) 生產(chan) 線快速分選、自動化集成測試及滿足實驗室研發及分析。半導體(ti) C-V特性分析儀(yi) 測試頻率為(wei) 10kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體(ti) 件CV特性測試分析。

WLRYJ-300型微流控芯片真空熱壓機是一款應用於(yu) PMMA、PC、PP、COP、COC、BOPET、CBC、樹脂（部分）、聚乙烯（部分）等硬質塑料芯片的鍵合，是硬質塑料微流控芯片加工專(zhuan) 用設備。基於(yu) MEMS技術製備的微流控芯片，其表麵多種微結構（微通道、微儲(chu) 液池、微孔等）需要經過鍵合形成密封的微流路才能用於(yu) 微流控分析。熱壓鍵合的原理是，通過外部壓力使得工件表麵緊密結合，依靠氫鍵形成初步鍵合，當