當前位置:首頁  >  raybet雷竞技官网在线下载
產品分類PRODUCT

我們(men) 相信好的產(chan) 品是信譽的保證!

  • BMDZ-4型PVDF薄膜電阻綜合測試測試儀
    BMDZ-4型PVDF薄膜電阻綜合測試測試儀 BMDZ-4型PVDF薄膜電阻測試儀是運用環形三電極法原理測量固體片狀、薄膜狀或液體類導靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表麵電阻率的多用途綜合測量裝置,也可作為超高阻計或微電流測試儀使用。不僅可測試薄膜...
  • JKZC-YDZK03A超寬頻率壓電阻抗分析儀
    JKZC-YDZK03A超寬頻率壓電阻抗分析儀 JKZC-YDZK03C型超寬頻率壓電阻抗分析儀 關鍵詞:壓電阻抗,壓電陶瓷,壓電材料,自動平衡JKZC-YDZK03C型超寬頻率壓電阻抗分析儀是用於壓電材料測試高精度阻抗分析儀,主要是主要用於鐵電...
  • JKZC-YDZK03AN壓電阻抗綜合測試係統
    JKZC-YDZK03AN壓電阻抗綜合測試係統 JKZC-YDZK03N壓電阻抗綜合測試係統是一款多用途的綜合測試係統,即可用於縱向壓電D33測試,豎向D15,橫向D31等性能測試,配置了高低溫冷熱台,進行變溫測試,配置顯微鏡進行微觀觀測,也可以用...
  • PVDF-600連續式壓電PVDF薄膜極化裝置
    PVDF-600連續式壓電PVDF薄膜極化裝置 PVDF-600型連續式壓電薄膜極化裝置是一款生產型極化裝置主要用於PVDF壓電薄膜的極化處理,該設備采用*電極,*的處理工藝,可以快速均勻的處理PVDF成批生產極化。是從事壓電PVDF薄膜的批量連續...
  • WSHD-600型晶圓均勻加熱裝置
    WSHD-600型晶圓均勻加熱裝置 晶圓是指矽半導體集成電路製作所用的矽晶片,其形狀為圓形;晶圓高溫測試是集成電路行業一道重要製程,通過嚴格的高溫測試可以預先剔除不良芯片,降低後續高昂的封裝成本。WSHD-600型晶圓均勻加熱裝置是一種...
  • TDZT-04C 鐵電材料參數測試儀
    TDZT-04C 鐵電材料參數測試儀 TDZT-04C 鐵電材料測試儀關鍵詞:電滯回線,疲勞,脈衝,漏電流,TDZT-04C鐵電測試儀通過全局總線進行控製,可以有效提高儀器控製速度及安全水平。設備采用孔浮地技術,可有效地降低電荷泄露造成的...
  • SWXWY-600型*材料高低溫應變測量係統
    SWXWY-600型*材料高低溫應變測量係統 SWXWY-600型*材料高低溫三維顯微應變測量係統係統——光學顯微鏡和DIC數字圖像相關技術的結合,可以滿足納米級精度測量需求。SWXWY-600型*材料三維顯微應變測量係統係統彌補了傳統設備無法進...
  • JSRD-200型金屬絲材導電率綜合測試儀
    JSRD-200型金屬絲材導電率綜合測試儀 金屬材料在材料中占著重要的地位,隨著技術的發展,對於金屬材料的性能越來越高,從低溫到高溫,從塊材到絲材,從電學到力學的要求,這些都是未來金屬材料提出了更高要求。 JSRD-200型金屬絲材導電...
  • PMCM-500型複合材料超低溫拉伸性能測試儀
    PMCM-500型複合材料超低溫拉伸性能測試儀 PMCM-500型複合材料超低溫拉伸性能測試儀是一款基於複合材料自行開發研製的新一代用於高低溫環境試驗的產品。該環境設備用於金屬材料、橡膠、塑料等材料在高低溫環境下的拉伸、壓縮、彎曲等力學性能測試;也...
  • 寬量程D33係數測試儀(D33範圍:8000PC/N)
    寬量程D33係數測試儀(D33範圍:8000PC/N) ZJ-4型寬量程型D33係數綜合測試儀,壓電測試儀(靜壓電係數d33測量儀)是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器,可以測量任意形狀的壓電陶瓷材料,也可以薄膜PVDF材料,在之前的基礎上添加了薄...
  • SMA-01型形狀記憶合金特性測試係統
    SMA-01型形狀記憶合金特性測試係統 SMA-01型形狀記憶合金特性測試係統是一款高精度,觸摸屏控製的測試儀,采用精密步進電機控製拉力,位移,高精度的位移、應力測量,可以實時顯示電阻、溫度、位移、力值並存儲。該設備目前已逐步應用於航空航天...
  • HTRT-1000型導電材料高溫RAYBET雷竞技及时
    HTRT-1000型導電材料高溫RAYBET雷竞技及时 電阻率表征技術是典型的金屬、合金相變行為研究手段,比如在鋼中的碳運動行為分析、或是合金析出動力學研究、以及形狀記憶合金的預相變行為表征的方麵。電阻率對這些相變行為則非常敏感,應用電阻率手段研究合金析出...
共 541 條記錄,當前 32 / 46 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁