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  • JK-CGLS190型常規原位拉伸冷熱台
    JK-CGLS190型常規原位拉伸冷熱台 JK-CGLS190型常規原位拉伸冷熱台是一款研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。
  • JK-SEM1900型原位冷熱台
    JK-SEM1900型原位冷熱台 JK-SEM1900型原位冷熱台是一種在掃描電子顯微鏡(SEM)標準樣品台上(無需改造電鏡內部),提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現對冷熱台上的樣品進行控溫,穩定後溫控精度最高可達&...
  • JK-600CH190P4D型外部調節探針冷熱台
    JK-600CH190P4D型外部調節探針冷熱台 JK-600CH190P4D型外部調節探針冷熱台
  • JK-600GCH2190P4微型探針冷熱台
    JK-600GCH2190P4微型探針冷熱台 JK-600GCH2190P4微型探針冷熱台產品特點:結構緊湊,適用於各種變溫測試最大溫度範圍-190~600℃(選型) 氣密腔室設計,可通保護氣體多探針測試上位機軟件控製支持改動或定製
  • JK-600CH190P8型常規探針冷熱台
    JK-600CH190P8型常規探針冷熱台 JK-600CH190P8型常規探針冷熱台是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-190~600℃(選型)或RT~1...
  • JK-600CH190P2BPE型電控位移探針冷熱台
    JK-600CH190P2BPE型電控位移探針冷熱台 光學冷熱台JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品,可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-190~600℃範圍內精準控製,與其他光學...
  • JK-600CHG2190型光學冷熱台
    JK-600CHG2190型光學冷熱台 JK-600CHG2190型光學冷熱台是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品,可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-190~600℃(選型)或RT~100...
  • JK-GH600-190型光學冷熱台
    JK-GH600-190型光學冷熱台 光學冷熱台JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品,可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-190~600℃範圍內精準控製,與其他光學...
  • JK-GH600S光學熱台
    JK-GH600S光學熱台 光學熱台JK-GH600S是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品,可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。產品采用電阻加熱的方式,實現RT~600℃範圍內精準控製,與其他光學設備(如顯微鏡、拉曼光...
  • JK-CH600LSJ型自調節拉伸機冷熱台
    JK-CH600LSJ型自調節拉伸機冷熱台 Instruments拉伸機冷熱台拉伸機冷熱台-JK-CH600LSJ型自調節拉伸機冷熱台是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-1...
  • JK-150BPE型半導體冷熱台
    JK-150BPE型半導體冷熱台 JK-150BPE型半導體冷熱台又稱帕爾貼冷熱台,利用半導體的熱-電效應製冷,配合循環水散熱,在 -30~150℃的溫度範圍內進行控溫,實現樣品在開放式 / 氣密 / 真空環境下的變溫光學、電學等測試...
  • JK-120BCH半導體冷熱台
    JK-120BCH半導體冷熱台 半導體冷熱台JK-120BCH采用半導體致冷,配合低溫循環液,實現從-40到180℃(選型)的控溫。結構緊湊,適用於各種變溫測試氣密腔室設計,可通保護氣體多探針測試上位機軟件控製支持改動或定製
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